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詳細(xì)摘要： 賽默飛 MICROLAB 350場發(fā)射俄歇電子譜儀是一款高性能的，具有高靈敏度和高能量分辨率掃描俄歇電子能譜儀（AES）。 SEM分辨率7納米和掃描俄歇映射（S...

詳細(xì)摘要： PHI Quantera II X射線光電子能譜儀是Ulvac-Phi公司以在業(yè)界獲得非常成績的Quantum 2000和Quantera SXM之上延申后所研...

詳細(xì)摘要： 賽默飛 EscaLab 250Xi X射線光電子能譜儀是一臺多功能高性能的表面分析儀器，它可以用于研究各種固體材料樣品表面（1-10nm厚度）的元素種類、化學(xué)價(jià)...

詳細(xì)摘要： 日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。 日本電子...

詳細(xì)摘要： 布魯克 Dimension Edge 掃描探針顯微鏡的設(shè)計(jì)系統(tǒng)能從上到下產(chǎn)生低漂移低偏離數(shù)據(jù)，可以在幾分鐘內(nèi)完成且達(dá)到可發(fā)表的數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，而不再需要幾小時(shí)，價(jià)格也...

詳細(xì)摘要： 蔡司 SIGMA高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過0.8nm，為您提供Z高分辨率和Z佳分析性能科研平臺。Sigma500...

詳細(xì)摘要： 蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡二十多年來，基于日漸完善的Gemini技術(shù)，GeminiSEM具有完整高效的檢測系統(tǒng)、*的分辨率以及簡便的操作方式...

詳細(xì)摘要： FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 InspectTM 專為滿足研究各類材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需...

詳細(xì)摘要： 蔡司 Stemi 508 研究級體視顯微鏡是全新升級的一款高品質(zhì)研究級立體體視顯微鏡。具有更高的放大倍數(shù)、更大的圖像景深，更加廣闊的視野范圍獲得更多的細(xì)節(jié)信息。...

詳細(xì)摘要： 蔡司 Stemi 305 高效實(shí)用型體視顯微鏡是推出的一款高效實(shí)用型體視顯微鏡。這款顯微鏡操作簡便，配有長效反射和透射 LED 光源及照相功能。可使用常規(guī)三目觀...

詳細(xì)摘要： 蔡司 Axio Vert.A1 倒置式材料金相顯微鏡是全新一代研究級倒置是全新一代研究級倒置材料顯微鏡Axio Vert.A1開創(chuàng)了研究級倒置式顯微鏡產(chǎn)品，完善...

詳細(xì)摘要： FEI Nova Nano SEM 場發(fā)射掃描電子顯微鏡該產(chǎn)品是世界上*款可以對有機(jī)材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進(jìn)...

詳細(xì)摘要： FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡是我們的環(huán)境 TEM 平臺，設(shè)計(jì)用來觀測功能性納米材料及其隨著時(shí)間的推移對氣體和溫度刺激的響應(yīng)。憑借*的差動(dòng)泵...

詳細(xì)摘要： 布魯克 Dimension FastScan 掃描探針顯微鏡在不損失Dimensionamp;#174; Iconamp;#174;超高的分辨率和的儀器性能前提...

詳細(xì)摘要： 日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開...

詳細(xì)摘要： PHI 5000 Versaprobe II X射線光電子能譜儀是材料科學(xué)和發(fā)展的領(lǐng)域中Z廣泛使用的表面分析技術(shù)。其原理是利用X射線束（一般會(huì)使鋁陽極或鎂陽極）...