FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡

FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 InspectTM 專為滿足研究各類材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需求而設(shè)計，配備高穩(wěn)定分辨率平臺，可滿足大多數(shù)研究的需要。簡單易用的界面可實現(xiàn)準確、快速的數(shù)據(jù)收集：將表面形貌和成分圖像與快速元素分析結(jié)合，確定材料特性及其化學元素組成。在眾多領(lǐng)域，高分辨率和高電流 FEG 掃描電鏡的價值在于有助應對生成高品質(zhì)圖像和實施快速分析的挑戰(zhàn)。
FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡是這些基礎(chǔ)研究應用領(lǐng)域主流而靈活的解決方案。用戶界面簡單、易學且靈活，足以應對復雜環(huán)境內(nèi)不同項目個別研究需求不同的挑戰(zhàn)。例如，標準導航功能包括樣品臺移動雙擊控制和拖放變焦。SmartSCANTM技術(shù)采用針對困難樣品的智能掃描策略，可減少噪聲，提供的數(shù)據(jù)。該儀器系列的設(shè)計源于顯微鏡工作者，并用于顯微鏡工作者，是一款真正超越僅有“易用性”的產(chǎn)品。
許多可用的新功能有助定制 InspectTM系列使其可實現(xiàn)特定的表征。諸如射束減速等新功能可將傳統(tǒng) FEG 掃描電鏡的低加速電壓性能提升至全新的高度。Nav-Cam™ 彩色圖像導航和新探測器令 具備更大的靈活性。更優(yōu)質(zhì)的數(shù)據(jù)、更大的靈活性、更高的效率，InspectTM 可實現(xiàn)快速簡單的操作，迅速獲知答案，實現(xiàn)投資價值。