詳細摘要： 產(chǎn)品概述科研級微分干涉金相顯微鏡XJ-51DIC適用于金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究

詳細摘要： 產(chǎn)品概述三目微分干涉金相顯微鏡XJ-55DIC適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究

詳細摘要： 產(chǎn)品概述科研級微分干涉金相顯微鏡XJ-52DIC適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究

詳細摘要： 產(chǎn)品概述科研級明暗場正置金相顯微鏡XJ-58C適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、...

詳細摘要： 產(chǎn)品概述三目正置金相顯微鏡XJ-53C-1配置了立桿式的機架和移動工作臺，顯微鏡主體可大范圍升降和360旋轉(zhuǎn)

詳細摘要： 產(chǎn)品概述產(chǎn)品簡介：XJ-A型便攜式金相顯微鏡可方便用于現(xiàn)場材料無法制作試樣時需鑒別的各種金屬與合金的組織結(jié)構(gòu)鑒定，可廣泛的應(yīng)用于工廠金相試驗室進行金屬材料的分析...

詳細摘要： 產(chǎn)品概述產(chǎn)品簡介：XJ-B型便攜式金相顯微鏡可方便用于現(xiàn)場材料無法制作試樣時需鑒別的各種金屬與合金的組織結(jié)構(gòu)鑒定，可廣泛的應(yīng)用于工廠金相試驗室進行金屬材料的分析...

詳細摘要： 產(chǎn)品概述一、產(chǎn)品簡介：研究級三目透反射金相顯微鏡XJ-58C適合觀察金相試樣，電子芯片等樣品

詳細摘要： 產(chǎn)品概述XJ-C現(xiàn)場金相顯微鏡，主要用于金屬工件的現(xiàn)場金相檢驗與失效分析