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科研級(jí)明暗場(chǎng)正置金相顯微鏡XJ-58C適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等分析研究。是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)等觀察研究的理想儀器。總放大倍數(shù)：50X-500X
◆性能特點(diǎn)：
1、采用了無限遠(yuǎn)光路設(shè)計(jì)。
2、配置了偏光、暗場(chǎng)裝置、可選配微分干涉裝置，拓展了功能。
3、系統(tǒng)配置了電動(dòng)調(diào)焦載物臺(tái)，高清相位模塊、高亮度LED照明。
4、采用大視野目鏡和明暗場(chǎng)長距平場(chǎng)物鏡，視場(chǎng)平坦,成像清晰。
5、整機(jī)采用了防霉處理，保護(hù)了鏡頭，延長了儀器的使用壽命。
6、兩路光路自由切換輸出，一路用于觀察，一路連接攝像裝置。
◆典型應(yīng)用：
1、電子工業(yè)制造業(yè)對(duì)硅片、電路基板、FPD、PCB板、芯片檢驗(yàn)。
2、觀察材料表面的某些特性，3、分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品概述
規(guī)格參數(shù)
| 序號(hào) | 名 稱 | 參數(shù) |
| 01 | 光學(xué)系統(tǒng) | 無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，鏡筒透鏡f=200mm |
| 02 | 觀察鏡筒 | 三目鏡筒（帶有0.3XCCD適配鏡） |
| 03 | 目 鏡 | 1、超寬視場(chǎng)平場(chǎng)目鏡WF10X/26mm2、WF10X/22mm，帶0.1mm十字分劃板 |
| 04 | 超長工作距離平場(chǎng)無限遠(yuǎn)明/暗場(chǎng)物鏡： | 5X/NA0.20(W.D=14.47mm)、10X/NA0.25(W.D=16.0mm)、20X/NA0.40(W.D=10.5mm)、50X/NA0.55(W.D=5.1mm) |
| 05 | 物鏡轉(zhuǎn)換器 | 帶DIC插孔的五孔轉(zhuǎn)換器 |
| 06 | 載物臺(tái) | 精密測(cè)量平臺(tái)，工作臺(tái)尺寸：150X150mm 移動(dòng)范圍50mmX50mm， |
| 07 | 濾色片 | 濾色片（綠、藍(lán)、中性） |
| 08 | 調(diào)焦 | 電動(dòng)調(diào)焦 |
| 09 | 光源 | 透射照明： LED燈5W,寬電壓AC85V—260V,亮度連續(xù)可調(diào) 反射照明：科勒照明鹵素?zé)?2V50W,寬電壓AC85V—260V,亮度連續(xù)可調(diào),帶孔徑光闌和視場(chǎng)光闌 |
| 10 | 偏光裝置 | 檢偏鏡可360度旋轉(zhuǎn)。起偏鏡、檢偏鏡均可移出光路 |
| 11 | 檢測(cè)工具 | 標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)尺：0.01mm測(cè)微尺 |
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