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熒光法殘氧儀/頂空分析儀

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  • 型號 X-325i
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市
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更新時間：2021/07/14 10:25:55瀏覽次數(shù)：970

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產(chǎn)品簡介

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自動化程度 手動
熒光法殘氧儀/頂空分析儀是光學(xué)感應(yīng)的熒光衰減法檢測原理、藥品頂空氧分析儀頂空氧及液體溶解氧同時分析檢測

詳細(xì)介紹

熒光法殘氧儀/頂空分析儀

熒光法是一款熒光衰減法原理的殘氧分析儀，將微頂空的樣氣通過專門的氣體采集裝置采集到內(nèi)部置有熒光貼片的采集漏斗。然后采用熒光法檢測頂空殘氧。熒光檢測原理：氧分子和熒光貼片中的熒光物質(zhì)接觸后，使得熒光物質(zhì)發(fā)射的熒光信號減弱。信號衰減程度和氧含量成正比。

 
熒光采樣分析的檢測方式與電化學(xué)的取樣分析不同，熒光法只需要對樣品采集最小 0.1ml的樣氣，并且熒光法的測試精度更高，符合 ASTM F2714-08標(biāo)準(zhǔn)測試方法。
 

熒光法可以適用于安瓿瓶、西林瓶、預(yù)注射等微小頂空的殘氧測試，測試結(jié)果可靠，不受樣氣量大小的影響。

 

熒光法殘氧儀/頂空分析儀型號：X-325i

熒光采樣分析的檢測方式與電化學(xué)的取樣分析不同，熒光法只需要對樣品采集最小 0.1ml的樣氣，并且熒光法的測試精度更高，符合 ASTM F2714-08標(biāo)準(zhǔn)測試方法。

熒光法殘氧儀/頂空分析儀

 

 

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