L320i Fab PHOENIX移動式氦檢漏儀

氦檢質(zhì)譜漏儀的原理

氦檢質(zhì)譜漏儀可查找漏點(diǎn)位置并測定漏率（通過漏孔的氣體流量）。因此，氦質(zhì)譜檢漏儀是一臺氦流量計(jì)。

檢漏儀在工作過程中首先是對試驗(yàn)對象進(jìn)行抽真空，來形成壓差使外部氣體穿過漏孔進(jìn)入檢漏儀。檢漏儀利用內(nèi)置氦質(zhì)譜儀測量進(jìn)入檢漏儀氣體氦分壓并將測量結(jié)果轉(zhuǎn)換為漏率顯示。顯示值單位一般采用流量單位。

重要技術(shù)規(guī)范

測量范圍和響應(yīng)時(shí)間是檢漏儀的兩個(gè)重要的參數(shù)。

測量范圍用小和可檢漏率限定。

小可檢漏率用靈敏的測量范圍系統(tǒng)的漂移與噪聲之和定義。每分鐘內(nèi)系統(tǒng)噪聲幅度和零點(diǎn)漂移相加就可以得到低可檢漏率。檢漏儀的零點(diǎn)漂移量非常小，所以一般僅采用噪聲幅度就可以確定檢漏儀的小可檢漏率。可檢漏率依賴于所采用的檢漏方法，利用逆流法和分流法（參見下面的說明）可以測量非常大的漏率。此外，檢漏儀內(nèi)部的多級高阻抗輸入開關(guān)放大器也能提高檢漏儀測量大漏的能力。在實(shí)際的檢漏操作過程中特別是查找漏點(diǎn)的時(shí)候，響應(yīng)時(shí)間十分重要。該時(shí)間指從用氦氣噴吹試驗(yàn)對象直到檢漏儀顯示測量值所用的時(shí)間。電子信號調(diào)節(jié)電路系統(tǒng)的響應(yīng)時(shí)間是總響應(yīng)時(shí)間的重要組成部分。對于檢漏儀來說，電氣系統(tǒng)的響應(yīng)時(shí)間遠(yuǎn)小于1秒。

檢漏設(shè)備對氦的有效抽速決定了氦氣通過漏孔進(jìn)入檢漏儀的時(shí)間（如果檢漏設(shè)備沒有輔助抽空的系統(tǒng)，檢漏儀內(nèi)置的真空泵的大小會影響系統(tǒng)的響應(yīng)時(shí)間）。檢漏系統(tǒng)的響應(yīng)時(shí)間可根據(jù)下面的簡單公式計(jì)算：

氦響應(yīng)時(shí)間

(達(dá)到實(shí)際漏率95%的時(shí)間)

其中 V = 試驗(yàn)對象容積

S_He = 檢漏系統(tǒng)對氦的有效抽速。

用標(biāo)準(zhǔn)漏孔校準(zhǔn)檢漏儀

檢漏工藝要求準(zhǔn)確地區(qū)分漏與不漏的試用對象，避免任何失誤。這就需要由標(biāo)準(zhǔn)漏孔（能產(chǎn)生已知氦漏率的人工漏孔）作為檢漏設(shè)備的基準(zhǔn)。為了獲得準(zhǔn)確的漏率數(shù)據(jù)，必須使用標(biāo)準(zhǔn)漏孔對校準(zhǔn)檢漏儀進(jìn)行校準(zhǔn)。

萊寶真空可以提供采用不同原理設(shè)計(jì)的漏率范圍10 - 9 ~ 10 - 4毫巴x升x秒 - 1的氦標(biāo)準(zhǔn)漏孔。所有標(biāo)準(zhǔn)漏孔的漏率都可以追溯到PTB（ 聯(lián)邦物理技術(shù)協(xié)會） 和

DAKKS認(rèn)證認(rèn)可的標(biāo)準(zhǔn)。根據(jù)客戶的要求， 每個(gè)氦標(biāo)準(zhǔn)漏孔都可以提供由DAkkS認(rèn)證認(rèn)可委員會頒發(fā)的校準(zhǔn)證書。校準(zhǔn)工作由萊寶真空在PTB的DAKKS校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室完成。

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