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FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱上海禹重實(shí)業(yè)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2021/8/1 14:32:13
  • 訪問(wèn)次數(shù)1245
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 上海禹重實(shí)業(yè)有限公司(以下簡(jiǎn)稱禹重科技®)是一家以服務(wù)introduce中國(guó)市場(chǎng)為主的進(jìn)口儀器貿(mào)易和檢測(cè)技術(shù)服務(wù)公司,下設(shè)三個(gè)事業(yè)部和一個(gè)中心,即分析儀器事業(yè)部、實(shí)驗(yàn)室服務(wù)事業(yè)部、項(xiàng)目開(kāi)發(fā)部、以及中禹聯(lián)重檢測(cè)技術(shù)中心。目前除上??偛客猓覀円呀⒈本?、沈陽(yáng)、太原、長(zhǎng)沙、廣州、青島和成都等分支機(jī)構(gòu)。為客戶提供更專業(yè)、更安全、更便捷的產(chǎn)品和服務(wù)是我們禹重科技®的目標(biāo)。

 

禹重科技®作為Thermo Science(賽默飛)、DIONEX(戴安)、Gilson(吉爾森)和Tekmar(泰克瑪)等品牌的核心代理商,依托(香港)亞測(cè)科技有限公司(Amicrotest Technology Limited),我們將分析測(cè)試前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給國(guó)內(nèi)客戶,為眾多企業(yè)和高校、科研院所以及政府機(jī)構(gòu)的產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制、合規(guī)運(yùn)營(yíng),提供成分分析儀器、表面分析儀器、自動(dòng)化樣品前處理儀器和物理力學(xué)儀器等綜合性儀器解決方案,同時(shí)提供儀器配套設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn)樣品耗材的銷售,材料測(cè)試等實(shí)驗(yàn)室服務(wù)。

成分分析儀,表面分析儀,光譜儀
FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切,簡(jiǎn)單易用的 InspectTM 專為滿足研究各類材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需求而設(shè)計(jì),配備高穩(wěn)定分辨率平臺(tái),可滿足大多數(shù)研究的需要。
FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切,簡(jiǎn)單易用的 InspectTM 專為滿足研究各類材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需求而設(shè)計(jì),配備高穩(wěn)定分辨率平臺(tái),可滿足大多數(shù)研究的需要。簡(jiǎn)單易用的界面可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確、快速的數(shù)據(jù)收集:將表面形貌和成分圖像與快速元素分析結(jié)合,確定材料特性及其化學(xué)元素組成。在眾多領(lǐng)域,高分辨率和高電流 FEG 掃描電鏡的價(jià)值在于有助應(yīng)對(duì)生成高品質(zhì)圖像和實(shí)施快速分析的挑戰(zhàn)。
FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡是這些基礎(chǔ)研究應(yīng)用領(lǐng)域主流而靈活的解決方案。用戶界面簡(jiǎn)單、易學(xué)且靈活,足以應(yīng)對(duì)復(fù)雜環(huán)境內(nèi)不同項(xiàng)目個(gè)別研究需求不同的挑戰(zhàn)。例如,標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)航功能包括樣品臺(tái)移動(dòng)雙擊控制和拖放變焦。SmartSCANTM技術(shù)采用針對(duì)困難樣品的智能掃描策略,可減少噪聲,提供的數(shù)據(jù)。該儀器系列的設(shè)計(jì)源于顯微鏡工作者,并用于顯微鏡工作者,是一款真正超越僅有“易用性”的產(chǎn)品。
許多可用的新功能有助定制 InspectTM系列使其可實(shí)現(xiàn)特定的表征。諸如射束減速等新功能可將傳統(tǒng) FEG 掃描電鏡的低加速電壓性能提升至全新的高度。Nav-Cam™ 彩色圖像導(dǎo)航和新探測(cè)器令 具備更大的靈活性。更優(yōu)質(zhì)的數(shù)據(jù)、更大的靈活性、更高的效率,InspectTM 可實(shí)現(xiàn)快速簡(jiǎn)單的操作,迅速獲知答案,實(shí)現(xiàn)投資價(jià)值。

 

關(guān)鍵詞:電子顯微鏡 顯微鏡
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