制藥網(wǎng)>產(chǎn)品庫>儀器儀表>光學(xué)分析儀器>電子顯微鏡>>飛納電鏡彩色成像技術(shù)

飛納電鏡彩色成像技術(shù)

參考價(jià)	面議

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司
品牌Phenom 飛納電鏡
型號ChemiSEM
所在地上海市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2024/10/30 11:39:41
訪問次數(shù)59

產(chǎn)品標(biāo)簽:

ChemiSEM 彩色成像技術(shù)

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品進(jìn)入商鋪同類產(chǎn)品

聯(lián)系方式：楊 18516656178 查看聯(lián)系方式

該公司近期關(guān)注度117839

聯(lián)系我們時(shí)請說明是制藥網(wǎng) 上看到的信息，謝謝!

索取相關(guān)資料

公司介紹主營產(chǎn)品

復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司，2012 年創(chuàng)立于上海，為高校，企業(yè)和研究所提供臺式掃描電子顯微鏡，及與臺式掃描電鏡相關(guān)的技術(shù)支持和測試服務(wù)。復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司成立以來，一直專注顯微技術(shù)，致力于實(shí)現(xiàn)掃描電鏡平民化。飛納電鏡——復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司為用戶提供從掃描電鏡基礎(chǔ)理論到 Level 5 應(yīng)用工程師的進(jìn)階培訓(xùn)，在上海、北京、廣州、成都設(shè)立了測試中心和售后服務(wù)中心，目前飛納電鏡在中國已經(jīng)擁有超過 2000 名用戶。

2017 年起，復(fù)納與荷蘭 Sioux 集團(tuán)（ASML 光刻機(jī)研發(fā)供應(yīng)商）合作開發(fā)基于分析儀器的數(shù)字化應(yīng)用解決方案；2018 年，復(fù)納引入并組建以 VSParticle 納米粒子發(fā)生器、ForgeNano 原子層沉積系統(tǒng)（美國）為主要產(chǎn)品的納米部門。復(fù)納又陸續(xù)引進(jìn)海外優(yōu)質(zhì)高科技設(shè)備：Technoorg Linda 離子研磨儀、DENSsolutions 原位透射樣品桿、NEOSCAN 臺式顯微 CT 到中國，旨在提高分析結(jié)果準(zhǔn)確性，提升儀器使用效率，節(jié)省人力成本。

展開顯示更多內(nèi)容

掃描電鏡，電子顯微鏡，細(xì)胞成像分析

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

產(chǎn)地	進(jìn)口	產(chǎn)品新舊	全新

飛納電鏡彩色成像技術(shù)ChemiSEM，將 SEM 形貌觀察與 EDS 成分分析相結(jié)合，讓工作流程更加流暢，簡化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等）的分析流程：通過彩色元素分布圖與 SEM 圖像的實(shí)時(shí)疊加，在成像同時(shí)提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。

飛納電鏡彩色成像技術(shù) 產(chǎn)品信息

飛納電鏡彩色成像技術(shù)ChemiSEM，將 SEM 形貌觀察與 EDS 成分分析相結(jié)合，讓工作流程更加流暢，簡化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等）的分析流程：通過彩色元素分布圖與 SEM 圖像的實(shí)時(shí)疊加，在成像同時(shí)提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。

實(shí)時(shí)分析獲取更深層的信息所有的 SEM-EDS 分析本質(zhì)上都是復(fù)雜的，對于產(chǎn)品故障分析和污染物識別等應(yīng)用，研發(fā) 需要不斷改進(jìn)質(zhì)量控制（QC）和故障分析（FA）流程，以更好地解決出現(xiàn)的問題。 ChemiSEM 技術(shù)的實(shí)時(shí)分析在質(zhì)量控制和生產(chǎn)效率提升方面提供了優(yōu)勢。它的 EDS 集成在儀器中，并在電鏡工作時(shí)始終在后臺收集成分?jǐn)?shù)據(jù)，逐步建立樣品更全面和詳細(xì)的信息，幫助您更快地定位到關(guān)鍵質(zhì)量問題。實(shí)時(shí)定量面掃：不再有

飛納電鏡彩色成像技術(shù)

實(shí)時(shí)定量面掃：不再有分析干擾傳統(tǒng)的元素分析中，復(fù)雜樣品元素分布和相分布面掃并不能及時(shí)得到精確的結(jié)果。例如，一個峰的信號有時(shí)會被識別為兩個元素，產(chǎn)生錯誤，干擾樣品QC 問題的判斷。憑借創(chuàng)新的算法和智能光譜擬合，ChemiSEM 技術(shù)可以幫助您的實(shí)驗(yàn)室團(tuán)隊(duì)實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的元素識別和量化—— 即使在處理多個重疊元素時(shí)也是如此。

飛納電鏡彩色成像技術(shù)

ChemiSEM 定量面掃：飛納電鏡彩色成像技術(shù)ChemiSEM 自動處理原始信號，生成定量面掃結(jié)果。數(shù)據(jù)被很好地解析，能夠有效避免和峰和重疊峰的影響。并且使用算法同時(shí)處理 BSE（背散射電子）和 EDS 信號，從而可以實(shí)時(shí)顯示樣品的形態(tài)和元素定量結(jié)果。

無偏差相分析傳統(tǒng)的相分析高度依賴于對樣品的假設(shè)，當(dāng)存在譜峰重疊或強(qiáng)度不足而遺漏了元素時(shí)，這可能會是一個問題。有了 ChemiPhase（ChemiSEM 技術(shù)中的一項(xiàng)新功能）后，可以避免這種情況。復(fù)雜樣品的分析能夠做到無偏差，可以基于數(shù)據(jù)單元中所有光譜結(jié)果，系統(tǒng)地識別每個獨(dú) 立的相。隨后，數(shù)據(jù)分析可以在沒有任何元素預(yù)定義的情況下自動運(yùn)行，無需豐富經(jīng)驗(yàn) 即可定位次要/微量元素，明確識別主要和次要成分，完成更深入、更全面的分析。

飛納電鏡彩色成像技術(shù)

使用 ChemiPhase 對地質(zhì)切片的分析，每個相的能譜成分被自動提取和計(jì)算，可以將不同礦物相有效區(qū)分。

自動樣品漂移校正成分分析過程中，準(zhǔn)確和有效的定量結(jié)果需要一個正確且穩(wěn)定的樣品位置信息。通常在圖像漂移的情況下，研究人員需要多次重新獲取分析數(shù)據(jù)，或者等待樣品停止漂移后再獲取數(shù)據(jù)，這兩種方式都會降低測試效率。通過不斷監(jiān)控樣品位置，ChemiSEM 軟件提供自動樣品漂移校正，使高倍率操作和較長時(shí)間的能譜采集成為可能。幫助大家節(jié)省寶貴的時(shí)間和精力，專注于更重要的事情：盡快獲取最高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。