X-325i熒光法殘氧儀

上海眾林X-325i熒光法殘氧儀頂空分析儀,熒光衰減法檢測原理,樣氣量只需0.1ml,可用于負壓環(huán)境,X-325i熒光法殘氧儀安瓿瓶,西林瓶,輸液瓶/袋,卡式瓶等頂空殘氧/溶解氧分析。

型號：X-325i

X-325i是一款常用于制藥行業(yè)集頂空殘氧/溶解氧的多功能分析儀。這款設備是基于光學感應的熒光衰減法檢測原理，頂空分析過程不對樣品進行采樣，對頂空樣氣體積及頂空條件（如負壓）無要求，樣氣量僅需0.1ml即可完成精準分析。有別于傳統方法 諸如電化學、氧化鋯等對樣氣量、頂空條件（負壓）有要求的采樣分析方式。

使用熒光法特質的熒光貼片OXYDOT ，可以實現無損檢測分析，應用于長期的包裝穩(wěn)定性研究。也可應用于溶液配液罐頂空殘氧分析。

特征：

● 零樣氣消耗，只需要極少的樣氣量0.1ml

● 可實現對頂空氧及液體溶解氧同時分析檢測

● 自動生成數據隨時間變化曲線

● 內置溫度和壓力補償

● 支持無損檢測分析，實現留樣分析

● 傳感器免維護，無需更換

● 設備零維護，*

● 數據自動無限儲存，PDF導出

性能特點

1、可用于油品、液體、空氣中非浸入或浸入式氧分析
2、隨著時間的推移充許對同一包裝進行多次測量
3、低成本的一次性或可重復性傳感器
4、消除樣品污染或泄漏的風險
5、通過實時、真實測量，精度進一步提高
6、無泵或無需像對類似電化學傳感器那樣的維護和更換
7、不受采樣量限制，不受正負壓影響，不受損于液體接觸，不破壞樣氣結構