上海眾林熒光法殘氧儀頂空分析儀,熒光衰減法檢測原理,樣氣量只需0.1ml,可用于負(fù)壓環(huán)境,熒光法殘氧儀安瓿瓶,西林瓶,輸液瓶/袋,卡式瓶等頂空殘氧/溶解氧分析。
型號:X-325i
X-325i是一款常用于制藥行業(yè)集頂空殘氧/溶解氧的多功能分析儀。這款設(shè)備是基于光學(xué)感應(yīng)的熒光衰減法檢測原理,頂空分析過程不對樣品進行采樣,對頂空樣氣體積及頂空條件(如負(fù)壓)無要求,樣氣量僅需0.1ml即可完成精準(zhǔn)分析。有別于傳統(tǒng)方法 諸如電化學(xué)、氧化鋯等對樣氣量、頂空條件(負(fù)壓)有要求的采樣分析方式。
使用熒光法特質(zhì)的熒光貼片OXYDOT ,可以實現(xiàn)無損檢測分析,應(yīng)用于長期的包裝穩(wěn)定性研究。也可應(yīng)用于溶液配液罐頂空殘氧分析。
上海眾林熒光法殘氧儀頂空分析儀,熒光衰減法檢測原理,樣氣量只需0.1ml,可用于負(fù)壓環(huán)境,熒光法殘氧儀安瓿瓶,西林瓶,輸液瓶/袋,卡式瓶等頂空殘氧/溶解氧分析。
特征:
● 零樣氣消耗,只需要極少的樣氣量0.1ml
● 可實現(xiàn)對頂空氧及液體溶解氧同時分析檢測
● 自動生成數(shù)據(jù)隨時間變化曲線
● 內(nèi)置溫度和壓力補償
● 支持無損檢測分析,實現(xiàn)留樣分析
● 傳感器免維護,無需更換
● 設(shè)備零維護,*
● 數(shù)據(jù)自動無限儲存,PDF導(dǎo)出