兩箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱 返回列表頁(yè)

TG-61320C高低溫沖擊試驗(yàn)箱儀器設(shè)備用途：

高低溫沖擊試驗(yàn)箱用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對(duì)象包括汽車(chē)電子/部件、LED/LCD/PDP顯示照明、新能源/電子元件/電器、塑膠/橡膠/薄膜、科研/質(zhì)檢/院校/醫(yī)療器材、PCB/FPC/HDI/MPCB/IC等行業(yè)領(lǐng)域等材料，可作為其產(chǎn)品品質(zhì)驗(yàn)證或改進(jìn)的依據(jù)和參考。

TG-61320C高低溫沖擊試驗(yàn)箱適用于標(biāo)準(zhǔn):

1：GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

2：GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；

3：GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；

4：GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；:

5：GJB 150.3-86 軍yong設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn)；

6：GJB/T 150.4-2009軍yong設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn)；:

7：GJB/T 150.5-86 軍yong設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分 溫度沖擊試驗(yàn)。

TG-61320C高低溫沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品特點(diǎn)：

1： 泰規(guī)儀器生產(chǎn)的新一代高低溫沖擊試驗(yàn)箱（2箱），箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均有較大的技術(shù)改革，運(yùn)行更可靠，維護(hù)更方便。

2：制冷機(jī)采用“泰康”或“ 比澤爾”。

3：控制系統(tǒng)采用<span style="font-family:微軟雅色觸摸屏中英文顯示按鍵式操作，外觀更加簡(jiǎn)單大方，操作設(shè)定簡(jiǎn)單。

4：提籃在高低溫室內(nèi)切換轉(zhuǎn)移，采用氣動(dòng)控制，轉(zhuǎn)換時(shí)間短，溫度恢復(fù)時(shí)間短，溫變速度快，設(shè)備整體結(jié)構(gòu)緊湊，體積小，采用兩箱法，提高了工作室的溫度均勻程但試件一直處于動(dòng)態(tài)，工作室不能留有測(cè)試孔，因此不能帶電、帶信號(hào)、帶氣源測(cè)試。

5：高低溫沖擊試驗(yàn)箱配備: SD卡儲(chǔ)存，USB輸出，電腦連接打印，大艙有紙無(wú)紙記錄等選配。

6：箱體加工采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無(wú)反作用把手，操作簡(jiǎn)便。殼體采用優(yōu)質(zhì)碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理或（選配）SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理，內(nèi)部材質(zhì)均采用SU304高級(jí)不銹鋼材質(zhì)。

7：高低溫沖擊試驗(yàn)箱配備大型觀測(cè)視窗附品牌照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時(shí)清晰的觀測(cè)箱內(nèi)狀況。

TG-61320C高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：