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激光平面干涉儀PG15-J 詳細摘要: 1、PG15-J型激光平面干涉儀工作基于雙光束等厚干涉原理。2、根據近代光學的研究結果,光兼有波動與微粒兩重特性。光的干涉現象是光的波動性的特性。
產品型號:PG15-J 所在地: 更新時間:2021-03-30 參考價: 面議 在線留言 -
干涉顯微鏡6JA 詳細摘要: 干涉顯微鏡6JA是用來測量精密加工零件(平面、圓柱等外表面)光潔度的儀器,也可以用來測量零件表面刻線,鍍層等深度。
產品型號:6JA 所在地: 更新時間:2021-03-30 參考價: 面議 在線留言