whth-80-20-880高低溫濕熱試驗(yàn)箱*

高低溫濕熱試驗(yàn)箱是高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱的簡(jiǎn)稱。用于測(cè)試各種電子元器件的耐濕，耐高溫的能力，廣泛適用于藥物、紡織、食品加工等無菌試驗(yàn)、穩(wěn)定性檢驗(yàn)以及工業(yè)產(chǎn)品的原料性能、產(chǎn)品包裝、產(chǎn)品壽命等測(cè)試。

以下我們來研究下高低溫濕熱試驗(yàn)箱其名下的型號(hào)為whth-80-20-880這款產(chǎn)品可以滿足的一些標(biāo)準(zhǔn)：

高低溫濕熱試驗(yàn)箱性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求:
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB2423.1-89 （IEC68-2-1）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB2423.2-89 （IEC68-2-2）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T2423.3-93（IEC68-2-3）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93（IEC68-2-30）
GJB150.3（ML-STD0-810D）高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗(yàn)方法
GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》
GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》
GJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》411濕熱試驗(yàn)
GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》
GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GJB360.8-87（MIL-STD-202f）高溫壽命試驗(yàn)
GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》
GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》
YD1268-2003《移動(dòng)通信手持機(jī)銼電池及充電器的安全要求標(biāo)準(zhǔn)高溫性能試驗(yàn)、溫度循環(huán) 試驗(yàn)、熱沖擊試驗(yàn)》