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兩廂式高低溫沖擊試驗(yàn)箱

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更新時(shí)間:2024-07-08 10:04:53瀏覽次數(shù):141

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冷熱沖擊試驗(yàn)箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣的特殊性,分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊,優(yōu)尼克生產(chǎn)的YNK/2CJ系列既可作冷熱沖擊試驗(yàn),也可以做單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用

詳細(xì)介紹

冷熱沖擊試驗(yàn)箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣的特殊性,分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊,優(yōu)尼克生產(chǎn)的YNK/2CJ系列既可作冷熱沖擊試驗(yàn),也可以做單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。廣泛使用于航空航天、單位、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘲l件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可信賴(lài)性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等,同時(shí)可通過(guò)此試驗(yàn),進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
設(shè)備特點(diǎn)
提籃在高低溫室內(nèi)切換轉(zhuǎn)移,采用氣動(dòng)控制,轉(zhuǎn)換時(shí)間短,溫度恢復(fù)時(shí)間短,溫變速度快,設(shè)備整體結(jié)構(gòu)緊湊,體積小,采用兩箱法,提高了工作室的溫度均勻性,但試件一直處于動(dòng)態(tài),工作室不能留有測(cè)試孔,因此不能帶電、帶信號(hào)、帶氣源測(cè)試
新一代外觀設(shè)計(jì),箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均做較大改進(jìn),技術(shù)指標(biāo)更加穩(wěn)定,運(yùn)行更好,維護(hù)更方便,備有好的萬(wàn)向滾輪,方便在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)移動(dòng)。
超大觸摸屏操作,外觀更加簡(jiǎn)潔大方,操作更加容易,設(shè)定值實(shí)際值實(shí)時(shí)顯示。
真空雙層玻璃:大視窗設(shè)計(jì),飛利浦高亮度照明,加熱無(wú)霧氣
為編程和文檔處理提供更多的接口選項(xiàng),記錄量大:SD卡儲(chǔ)存,USB輸出,電腦連接打印,大倉(cāng)有紙無(wú)紙記錄等選配
可信賴(lài)性高:主要配件選配專(zhuān)業(yè)廠商,確保提高整機(jī)可信賴(lài)性

實(shí)時(shí)監(jiān)控

執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法
GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度交變)
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)
GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)
其他
環(huán)境溫度:(環(huán)境溫度+5~+25℃)
安全:短路保護(hù)、超溫保護(hù)、壓縮機(jī)超壓保護(hù)、壓縮機(jī)過(guò)載保護(hù)、風(fēng)機(jī)過(guò)載保護(hù)、漏電保護(hù)、相序缺相保護(hù)、操作人員安全保護(hù)、試件保護(hù)
附件標(biāo)準(zhǔn)配置
照明燈:LED照明
移動(dòng)腳輪:4
通訊:SD卡/USB/CF/以太網(wǎng),按儀表選配


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