詳細摘要： 弱吸收的意義在高功率激光系統(tǒng)中，光學鏡片的膜層及體材料吸收較大的話會引起以下熱透鏡效應進而產(chǎn)生一系列問題： 1.如下圖所示的焦距發(fā)生變化 2.波前畸變 3.退偏...

詳細摘要： EKKOTM 圓二色性微片測量儀用于光學活性化合物的高通量篩選。EKKOTM 圓二色性微片測量儀使用垂直光路直接從標準孔板測量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉(zhuǎn)移到...

詳細摘要： PCI弱吸收儀特點：精度高: 1 ppm；一次測量可以區(qū)分體、面吸收；掃描速度快（幾分鐘）；對樣品規(guī)格要求不高；操作方便、簡單。

詳細摘要： Exicor雙折射微型成像儀為學術(shù)界和工業(yè)界的研究人員提供了評估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業(yè)材料。 微型成像儀具有0.7μm的數(shù)字分辨率，0.1nm的檢...

詳細摘要： 偏振測量長期以來一直是Hinds儀器的專業(yè)技術(shù)，在新的交鑰匙雙PEM研究中，STOKES偏振計系統(tǒng)是為測量光的斯托克斯參量提供高靈敏度的下一步，該系統(tǒng)在光學元件...

詳細摘要： 使用Hinds儀器公司PEM技術(shù)，該系統(tǒng)為一個完整的Mueller偏振計提供了高水平的靈敏度。關(guān)鍵詞：150XT,穆勒橢偏儀，Hinds. Hinds Inst...

詳細摘要： Exicor測量通過正在研究的光學樣品沿著光路積分的延遲。它旨在測量并顯示延遲軸的大小和方向。的設計（申請中）消除了光學系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間...

詳細摘要： Hinds Instruments 公司的2-MGEM橢圓儀是一種用于測量米勒矩陣樣本的正常入射偏振反射顯微鏡。它可以用來評估RTISO 核燃料熱解碳層的光學各...

詳細摘要： LCD材料的超低階雙折射測量用于LCD的Exicor GEN系列在與光學材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統(tǒng)，用于測量...

詳細摘要： Hinds儀器的’Exicor® 雙折射測量系統(tǒng)PV-Si是工作平臺的擴展。本系統(tǒng)采用高質(zhì)量的對稱光彈性調(diào)制器、1550 nm激光和Ge雪崩光電二極管探...

詳細摘要： Hinds 儀器的Exicor雙折射測量系統(tǒng)型號150AT是Exicor®雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺。 該系統(tǒng)具有多功能性，在生產(chǎn)車間和研發(fā)實驗室...

詳細摘要： Hinds Instruments 的ExicorOIA是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsr...