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詳細(xì)介紹
H3TRB高溫高濕偏置試驗(yàn)系統(tǒng)適用范圍:適用于F型、G型、B型、TO220、TO3P、TO92、片式、軸向、徑向等各種封裝分立器件進(jìn)行高溫反偏試驗(yàn):如各種二極管、三極管、場效應(yīng)管、可控硅、橋堆等。
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產(chǎn)品關(guān)鍵詞：高溫反偏老化試驗(yàn)箱，光電子器件老化系統(tǒng)，電容器高溫老化系統(tǒng)，高溫高濕偏置試驗(yàn)系統(tǒng)，光電耦合器專用設(shè)備，發(fā)光二極恒流高溫電流壽命試驗(yàn)，大功率晶體管老化系統(tǒng)，IGBT模塊功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng)，集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)、DC/DC模塊高溫老化系統(tǒng)、三端穩(wěn)壓器高溫壽命老化系統(tǒng)、高溫反偏老化系統(tǒng)、HTRB、HTIR、H3TRB、分立器件綜合老化系統(tǒng)、二極管恒流老化系統(tǒng)、二極管全動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)、OPLIFE、功率循環(huán)、IGBT功率循環(huán)老化系統(tǒng)、LED老化系統(tǒng)、電容器高溫老化系統(tǒng)、可控硅老化系統(tǒng)、老化板、老化測試座、試驗(yàn)電源 等等
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產(chǎn)品關(guān)鍵詞：高溫反偏老化試驗(yàn)箱，光電子器件老化系統(tǒng)，電容器高溫老化系統(tǒng)，高溫高濕偏置試驗(yàn)系統(tǒng)，光電耦合器專用設(shè)備，發(fā)光二極恒流高溫電流壽命試驗(yàn)，大功率晶體管老化系統(tǒng)，IGBT模塊功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng)，集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)、DC/DC模塊高溫老化系統(tǒng)、三端穩(wěn)壓器高溫壽命老化系統(tǒng)、高溫反偏老化系統(tǒng)、HTRB、HTIR、H3TRB、分立器件綜合老化系統(tǒng)、二極管恒流老化系統(tǒng)、二極管全動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)、OPLIFE、功率循環(huán)、IGBT功率循環(huán)老化系統(tǒng)、LED老化系統(tǒng)、電容器高溫老化系統(tǒng)、可控硅老化系統(tǒng)、老化板、老化測試座、試驗(yàn)電源 等等
- 高低溫試驗(yàn)箱
- 型號(hào)ESPEC GPR-03
- 試驗(yàn)腔尺寸600*750*800(mm)
- 風(fēng)道設(shè)計(jì)豎向循環(huán)風(fēng)道設(shè)計(jì)(老化板豎直插板)
- 試驗(yàn)溫度 / 濕度范圍-20℃～+150℃ / 25～98%RH
- 溫度均勻性125℃±3℃(空載)； 試驗(yàn)溫度波動(dòng)度：±0.5℃
- 供水人工補(bǔ)水/自動(dòng)補(bǔ)水
- 容量
- 獨(dú)立試驗(yàn)區(qū)數(shù)量4-8個(gè)區(qū)
- 試驗(yàn)通道16個(gè)
- 單板工位數(shù)40 / 80工位（可選）
- 整機(jī)容量640 / 1280工位（可選）
- 試驗(yàn)電源
- 試驗(yàn)電源數(shù)量4~8臺(tái)
- 試驗(yàn)電源量程Max1000V
- 驅(qū)動(dòng)檢測板
- 驅(qū)動(dòng)板數(shù)量16塊
- 電壓檢測范圍0.0V～1000.0V； 分辨率：1V； 精度：±(1％＋1LSB)
- 漏電流檢測范圍0.0μA～50.0mA； 分辨率：0.1μA； 精度：±(1％＋1LSB)
- 工位保護(hù)方式繼電器保護(hù) / 保險(xiǎn)絲保護(hù)
- 老化板
- 基板材質(zhì)耐150℃高溫的H3TRB專用高絕緣底板，表面經(jīng)過進(jìn)口三防漆涂覆，確保高溫高濕條件下使用壽命可達(dá)兩年以上
- 老化座老化座Socket均采用耐高溫、抗氧化、耐疲勞材料
- 老化板尺寸290*600(mm)
- 整機(jī)信息
- 尺寸1800W*1550D*2000H(mm)
- 電網(wǎng)要求A.C.220V±10％ / 50Hz
- 功率 / 重量10KW / 700kg
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