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當前位置:北京中瑞先創(chuàng)科技有限公司>>激光系列產(chǎn)品>>激光光束分析儀>> BeamMap2-CM狹縫掃描式光束質量分析儀

狹縫掃描式光束質量分析儀

參   考   價: 1000

訂  貨  量: ≥1 臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號BeamMap2-CM

品       牌其他品牌

廠商性質代理商

所  在  地北京市

聯(lián)系方式:楊淑君查看聯(lián)系方式

更新時間:2024-09-11 15:44:34瀏覽次數(shù):291次

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產(chǎn)地 進口 產(chǎn)品新舊 全新
產(chǎn)品ID:S-BMS2-CM4-Si-5

品牌名稱:美國Dataray


DataRay的BeamMap2代表了一種w全不同的實時光束分析方法。它通過允許沿光束行程的多個位置進行測量,擴展了Beam'R2的測量功能。這種實時狹縫掃描系統(tǒng)在旋轉圓盤上的多個z平面中使用XY狹縫對,以同時測量四個不同z位置處的四個光束輪廓。 BeamMap2獨t的設計z適用于焦點位置,M2,光束發(fā)散和指向的實時測量

產(chǎn)品特點:

· 190至1150 nm,Si探測器

· 650至1800 nm,InGaAs 探測器

· 1000至2300或2500 nm,InGaAs(擴展)測器

· 光束直徑~100 μm至~3 mm(1.5 mm加長InGaAs)

· 25 μm狹縫對與Si;0.1到2 μm采樣間隔

· 50 μm狹縫對,帶 InGaAs;0.1到2 μm采樣間隔

· 實時±1 mr實時發(fā)散和指向測量精度

· 端口供電,USB2.0,靈活的3米電纜,沒有電源磚

· 0.1 μm采樣和分辨率

· 線性和對數(shù)X-Y輪廓

· 輪廓縮放和狹縫寬度補償

· 實時多Z平面掃描狹縫系統(tǒng)

· 實時XYZ輪廓,焦點位置

· 實時M2、發(fā)散、準直、對準

產(chǎn)品參數(shù):

產(chǎn)品參數(shù)


波長

Si detector: 190 to 1150 nm

InGaAs detector: 650 to 1800 nm

Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm

Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm

掃描光束直徑

Si detector: 5 μm to 4 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*

InGaAs detector: 10 μm to 3 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*

InGaAs (extended) detector: 10 μm to 2 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*

平面間距(CM4 models)

5 mm: -5, 0, +5, +20 mm

平面間距 (CM3 models)

10 mm: -10, 0, +10, 0 mm

束腰直徑測量

Second moment (4s) diameter to ISO 11146; Fitted Gaussian & TopHat

1/e2 (13.5%) width

User selectable % of peak

Knife-Edge mode* for very small beams

束腰位置測量

X、Y 和 Z 方向上 ± 20 μm z佳

測量源

連續(xù)波;脈沖激光,Φ μm ≥ [500/(PRR in kHz)]

分辨率精度

0.1 μm或掃描范圍的0.05%±< 2% ± = 0.5 μm

M2 測量

1 to > 20, ± 5%

發(fā)散/準直,指向

1 mrad

zui大功率和輻照度

1 W Total & 0.5 mW/μm2

增益范圍

1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range

顯示圖形

X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16

更新率

~5 Hz

平均

用戶可選擇運行平均值(1 到 8 個樣本)

zui低電腦要求

Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port

* Knife-Edge mode需要 CM3 型號

產(chǎn)品選擇:


Beam’R2

BeamMap2

主要特征

集成X和Y輪廓

實時 XYZθΦ 測量和焦點查找

實時指向、發(fā)散和M2 測量

接口

USB 2.0 Port-powered

CW or Pulsed?

CW,脈沖zui小 PRR(Si 探測器)≈ [500/(激光直徑μm] kHz

波長

Si:190-1150 nm

InGaAs:650-1800 nm

Si+InGaAs:190-1800nm

Si+InGaAs,extended:190-2500nm

X-Y-Z Profiles, plus Θ-Φ

N/A


z佳分辨率

0.1 μm

zui小光束

2 μm (Knife Edge mode)

更新率

5 Hz real-time (adjustable 2-10 Hz)

M2 測量

Yes - with M2DU-BR accessory

Yes - real-time

定位焦點

Yes - with M2DU-BR accessory

Yes - real-time

指向/發(fā)散

Yes - with M2DU-BR accessory

Yes - real-time

開關增益(選項 dB)

32 dB

參數(shù)

參數(shù)值

BeamMap2

Beam'R2

Comments

波長可選范圍(nm)

190-1150, 650-1800, 190-1800, 190-2500

Yes

Yes

Si, InGaAs, Si + InGaAs,

被掃描光束直徑

2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X)

Yes

Yes

Si + InGaAs, extended

X-Y 輪廓及中心分辨率:

0.1 μm 或者 0.05% 的掃描范圍

Yes

Yes


精度:

±<2% ± ≤0.5μm

Yes

Yes


CW or Pulsed

連續(xù)/脈沖 zui小PRR ≈ [500/(激光直徑μm)]kHz

Yes

Yes


光束對準準直

± 1 mrad with BeamMap2 ColliMate

Yes

-


M2 測量

1 to >20, ± 5%

Yes

-

Beam Dependent

實時更新

5 Hz

Yes

Yes

4 Z-plane hyperbolic fit

zui大功率&輻照度

1 W Total & 0.3 mW/μm2

Yes

Yes

Adjustable 2-12 Hz

增益范圍:

32dB

Yes

Yes

Metallic film on Sapphire slits














































































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