高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱

GP/TH系列高低溫濕熱（恒溫恒濕））試驗(yàn)箱適用于航空航天、信息電子、儀器儀表、材料電工、電子產(chǎn)品、高等院校、科研單位等行業(yè)和領(lǐng)域的各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

GP/TH系列高低溫試驗(yàn)箱適用于航空航天、信息電子、儀器儀表、材料電工、電子產(chǎn)品、高等院校、科研單位等行業(yè)和領(lǐng)域的各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
參照標(biāo)準(zhǔn)：
-GBT10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
-GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）
-GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
-GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)
-GB/T2423.1-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
-GB/T2423.2-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
-GB/T2423.3-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)(IEC60068-2-78:2001)
-GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱12h+12h循環(huán)(IEC60068-2-30:2005)
-GB/T2423.9-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱(IEC60068-2-56)
-GB/T2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)等