光學(xué)元件反射率測量儀

Sphere-3000 光學(xué)元件反射率測量儀

Sphere3000是一套全波長顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀，能快速準(zhǔn)確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

Sphere3000光學(xué)元件反射率測量儀-特點：

顯微測定微小領(lǐng)域的反射率  物鏡對焦于被測物微小區(qū)域（φ60μm）

CIE顏色測定  X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長等

檢測速度快  高性能探測器，能在幾秒內(nèi)實現(xiàn)重現(xiàn)性高的測定

消除背面反射光 無需進行背面防反射處理即可快速準(zhǔn)確地測定表面反射率

Sphere3000光學(xué)元件反射率測量儀-技術(shù)參數(shù)