晶體出現(xiàn)率分析儀視頻

ZMP960晶體出現(xiàn)率分析儀是工作原理是通過專用高分辨率CCD線性傳感器和顯微光學掃描平臺，將顆粒圖像信息采集下來并傳輸到計算機中，用專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行分析。結合智能的背景分離及顆粒邊界搜索算法，將目標顆粒與背景分離，分析出各種測量參數，并通過顯示器和打印機輸出。