包材密封性測(cè)試（CCIT）儀圖片

包材密封性測(cè)試（CCIT）儀Leak-M是根據(jù)真空衰減法的原理設(shè)計(jì)研發(fā)的，滿足ASTMF2338-09相關(guān)方法，符合中國(guó)CDA《上市化學(xué)仿制藥（注射劑）一致性評(píng)價(jià)技術(shù)要求》。精度可到達(dá)檢測(cè)3微米漏孔，是*無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，測(cè)試誤差小，降低泄漏風(fēng)險(xiǎn)；減少原料耗費(fèi)，降低生產(chǎn)成本，由于是無(wú)損測(cè)試，全部包裝可以返回市場(chǎng)銷售；可以獲得漏孔級(jí)別；無(wú)需樣品制備，無(wú)損、定量、可靠、可重復(fù)、客觀。