安捷倫原子力顯微鏡圖片

原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscopy，簡稱AFM)，是一種不需要導(dǎo)電試樣的掃描探針顯微鏡。這種顯微鏡通過其粗細只有一個原子大小的探針在非常近的距離上探索物體表面的情況，便可以分辨出其他顯微鏡無法分辨的極小尺度上的表面細節(jié)與特征。