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2024-10-21 14:29:41103
| 參考價(jià): | ￥11111 |
| 訂貨量: | ≥1臺(tái) |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 產(chǎn)品型號(hào):
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 品牌:
- 所在地區(qū):成都市
進(jìn)入商鋪
在線詢價(jià)圖片描述：
HAST半導(dǎo)體芯片立式偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)，HAST測(cè)試系統(tǒng)采用立式結(jié)構(gòu)，便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環(huán)境條件，對(duì)半導(dǎo)體芯片施加偏置電壓，以模擬芯片在長(zhǎng)時(shí)間使用過程中的老化效應(yīng)。該系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于IC封裝、半導(dǎo)體
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