名稱:泰克Tektronix 370B 晶體管測試儀
主要參數(shù):
半導體器件高精度測量
-上限達2000V或電流到10A的源(370A/B)
-上限到3000V(371A)
-上限到220W(370A/B)
-上限到400A(371A)
-1nA的測量分辨率
-上限到3000W(371A)
-上限到2mV的測量分辨率(370A/B)
-波形對比
-包絡顯示
-波形平均
-點光標(370A)
-Kelvin傳感測量
-全程控
-MS-DOS兼容的軟盤,方便設置參孝存儲和調用
交互式程
-所有交互式程控測量是通過有鮮明特點的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式,調整和存儲操作參數(shù),包括370A的非易失存儲器、內(nèi)置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。
測試夾具
-測試夾具是標準附件,它提供被測器件安全防護,以保護測量人員的安全。測試夾具適應標準的A1001,中間通過Kelvin傳感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。
程控特性曲線圖示儀
-的高分辨率特性曲線圖示儀,可應用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場效應管、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示和其它半導體器件的直流參數(shù)特性的測試。
-在研發(fā)實驗室,用370A來完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報告這些具體的測試工作。
應用
-手動或自動進行半導體高分辨率DC參數(shù)測量
-來料檢查
-生產(chǎn)測試
-過程監(jiān)視及質量控制
-數(shù)據(jù)報告的生成
-元件配對
-失效分析
-工程測試