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HAST半導(dǎo)體高加速立式偏壓應(yīng)力老化試驗(yàn)箱

參考價(jià) 99999
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱成都四洋科技有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號
  • 所  在  地成都市
  • 廠商性質(zhì)代理商
  • 更新時(shí)間2024/11/13 15:18:34
  • 訪問次數(shù)274
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成都四洋科技有限公司是FSSC成員之一,位于中國成都經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)。主要涉足低溫、電子、真空行業(yè)。公司擁有一批技術(shù)團(tuán)隊(duì),是集生產(chǎn)、貿(mào)易、維修服務(wù)為一體的高科技公司。公司核心技術(shù)人員依托美國Chart(原中國國企“金鳳“)及航空、核工業(yè)物理所技術(shù)優(yōu)勢,致力于低溫儲存技術(shù)、真空絕熱技術(shù)、深冷處理技術(shù)的研究、開發(fā)及系統(tǒng)集成,提供特殊低溫應(yīng)用領(lǐng)域的技術(shù)方案、產(chǎn)品設(shè)計(jì)及專用低溫設(shè)備研發(fā);代理業(yè)務(wù)包括銷售國外產(chǎn)品:美國AEG調(diào)功器、美國AE(Advanced Energy)公司電源、美國MKS(萬機(jī))真空計(jì)及流量計(jì)、德國普發(fā)Pfeiffer真空設(shè)備及儀器、美國Brooks Automation CTI低溫冷泵、GP真空計(jì)、瑞士英福康inficon、Brooks instrument流量計(jì)、VAT真空閥門等產(chǎn)品。




我公司有著充足的庫存,交貨期短,在價(jià)格上有很大優(yōu)勢,有一支兼銷售、技術(shù)支持、售后服務(wù)為一體的優(yōu)秀團(tuán)隊(duì)為您提供貼心服務(wù)!歡迎致電4008-567-377或發(fā)郵件到siyangchina@163.com索取您所感興趣的產(chǎn)品資料。

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MKS、GP、Inficon、Pfeiffer、Adixen、Busch 、CVI低溫泵、VAT真空閥門、Swagelok真空配件、Line Tech 流量計(jì)等
產(chǎn)地 國產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
自動(dòng)化程度 其他
HAST半導(dǎo)體高加速立式偏壓應(yīng)力老化試驗(yàn)箱,HAST高加速壽命試驗(yàn)箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的,這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。
HAST半導(dǎo)體高加速立式偏壓應(yīng)力老化試驗(yàn)箱 產(chǎn)品信息

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HAST半導(dǎo)體高加速立式偏壓應(yīng)力老化試驗(yàn)箱

HAST半導(dǎo)體高加速立式偏壓應(yīng)力老化試驗(yàn)箱,HAST高加速壽命試驗(yàn)箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的,這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。


HAST半導(dǎo)體高加速立式偏壓應(yīng)力老化試驗(yàn)箱

特點(diǎn)

·高機(jī)能:采用驅(qū)動(dòng)計(jì)測, 測試時(shí)焊接工序大幅減少

·軟件設(shè)計(jì)簡單明了,直觀易操作

·遠(yuǎn)程監(jiān)控功能,可監(jiān)控試驗(yàn)過程。

·便利性高:構(gòu)造裝著脫落式、 易進(jìn)行保養(yǎng)交換??赏瑫r(shí)試驗(yàn)停 止等聯(lián)動(dòng)裝置功能,系統(tǒng)構(gòu)成靈活。

·測試自檢功能:點(diǎn)檢、校正方便。

·設(shè)計(jì)精巧,不受場所限制,易移動(dòng)。

·可靠性高:配有CF卡,以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系統(tǒng)的支撐,確保試驗(yàn)的安全繼續(xù)進(jìn)行。


HAST半導(dǎo)體高加速立式偏壓應(yīng)力老化試驗(yàn)箱

用于評估非氣密性封裝IC器件(固態(tài)設(shè)備)在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性,對芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度(偏壓)高加速應(yīng)力壽命老化試驗(yàn)。

應(yīng)用領(lǐng)域: PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片

HAST半導(dǎo)體高加速應(yīng)力測試箱BHAST實(shí)驗(yàn)箱





















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