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PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng)東莞市卓馳儀器設(shè)備有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地東莞市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2024/7/2 11:38:05
  • 訪問(wèn)次數(shù)168
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東莞市卓馳儀器設(shè)備有限公司創(chuàng)建于2015年,位于中國(guó)制造業(yè)名城東莞。工廠占地面積2000平方米,是一家專(zhuān)業(yè)從環(huán)境模擬試驗(yàn)設(shè)備、力學(xué)材料試驗(yàn)機(jī)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售服務(wù)為一體的專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)商。 公司為客戶提供一站式的定制化的非標(biāo)設(shè)備服務(wù),以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)募夹g(shù)工程師,科學(xué)的管理體制,適應(yīng)市場(chǎng)的發(fā)展和需要。擁有多個(gè)經(jīng)驗(yàn)豐富的項(xiàng)目管理隊(duì)伍,精通項(xiàng)目管理流程、產(chǎn)品開(kāi)發(fā)制作生產(chǎn)能力,對(duì)客戶進(jìn)行一對(duì)一專(zhuān)業(yè)跟進(jìn)服務(wù)。 主要承接各標(biāo)準(zhǔn)或非標(biāo)試驗(yàn)設(shè)備制造;可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱,可程式高低溫試驗(yàn)箱,可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱、砂塵試驗(yàn)箱、淋雨試驗(yàn)箱、力學(xué)材料試驗(yàn)機(jī)、拉力試驗(yàn)機(jī)等試驗(yàn)產(chǎn)品。公司嚴(yán)格按照質(zhì)量管理體系,使用配件來(lái)源大多數(shù)為日本、韓國(guó)進(jìn)口以及國(guó)內(nèi)企業(yè)所提供。產(chǎn)品廣泛用于光伏按行業(yè)、新能源行業(yè)、芯片行...
uv紫外老化試驗(yàn)箱
PCT老化箱(又名PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī))主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?,或封裝體引腳間因污染造成短路等
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱 產(chǎn)品信息

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PCT老化箱(又名PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī))主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),加快試驗(yàn)過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

PCT老化箱內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì),復(fù)合國(guó)家安全容器標(biāo)準(zhǔn),可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象,從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中受過(guò)熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。
A、誤操作安全裝置:高壓加速老化試驗(yàn)箱鍋門(mén)若未關(guān)緊則機(jī)器無(wú)法啟動(dòng).
B、超壓安全保護(hù):當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過(guò)工作值自動(dòng)排氣泄壓.
C、超溫保護(hù):當(dāng)鍋內(nèi)溫度過(guò)高時(shí)機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動(dòng)切斷加熱電源.
D、防燙傷保護(hù):特制材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷.
E、手動(dòng)安全保護(hù)排壓伐.
PCT試驗(yàn)箱對(duì)半導(dǎo)體的PCT測(cè)試:PCT最主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?,待測(cè)品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測(cè)試,如果半導(dǎo)體封裝的不好,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中,常見(jiàn)的故裝原因:爆米花效應(yīng)、動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問(wèn)題。



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