國nei首chuang、全qiu領(lǐng)xian的多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù),輕松應(yīng)對超小測量點(diǎn)薄涂層和極薄涂層的測量分析,在柔性電路板、芯片封裝環(huán)節(jié)、晶圓微區(qū)的鍍層厚度和成分自動(dòng)測試分析中盡顯優(yōu)勢
主要利用X射線全反射原理,從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛細(xì)玻璃管的內(nèi)壁以全反射的方式進(jìn)行傳輸,利用毛細(xì)玻璃管的彎曲來改變X射線的傳輸方向,從而實(shí)現(xiàn)X射線匯聚,同時(shí)將X射線的強(qiáng)度增加2~3個(gè)數(shù)量級(jí)。
▪ 在一六儀器du創(chuàng)的高集成光路系統(tǒng)的基礎(chǔ)上,搭配多導(dǎo)毛細(xì)管 實(shí)現(xiàn)極小面積或極薄鍍層的高速、精確、穩(wěn)定的測量,聚焦直徑可小至10μm
▪quan球qian沿的多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù),可產(chǎn)生比準(zhǔn)直器機(jī)構(gòu)強(qiáng)千倍的信號(hào)強(qiáng)度
▪ 多導(dǎo)毛細(xì)管將激發(fā)光束非常高強(qiáng)度的集中在一個(gè)的小光斑上,從而顯著縮短測量時(shí)間
▪ 在測量納米級(jí)Au厚度或薄膜層厚度及成分時(shí),滿足微小光斑、短測量時(shí)間的同時(shí),測量效果接近wan美
測量精度更高:新開發(fā)的du特的光學(xué)器件和全qiu領(lǐng)xian的多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)可對超微小區(qū)域及納米級(jí)薄層高精度測量
超微小樣品檢測:精確測試最小測量點(diǎn)直徑可達(dá)10µm,測量微點(diǎn)技術(shù)的領(lǐng)xian者
測量效率高:高靈敏度、高解析度X熒光檢測系統(tǒng)搭配多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù),測量時(shí)間更短,能夠?qū)崿F(xiàn)普通機(jī)型幾倍的檢測量
適配性強(qiáng):適用于各類樣品尺寸的產(chǎn)品線,如600*600mm大型印刷電路板
操作體驗(yàn)佳:高精細(xì)樣品觀察圖像,微區(qū)小至納米級(jí)別的分辨率,實(shí)現(xiàn)更快速便捷的測試
自動(dòng)、智能:搭載可編程全自動(dòng)位移平臺(tái),無人值守、自動(dòng)檢測樣品同時(shí)搭載影像識(shí)別功能,自動(dòng)判定測試位置