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PCM結(jié)晶監(jiān)測(cè)系統(tǒng)

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱北京海菲爾格科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2024/3/16 9:54:12
  • 訪問(wèn)次數(shù)161
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北京海菲爾格科技有限公司HIFERG TECHNOLOGY致力于提升中國(guó)實(shí)驗(yàn)室生產(chǎn)力水平,提供的研發(fā)設(shè)備和實(shí)驗(yàn)室儀器,為客戶提供量身定制系統(tǒng)的解決方案,通過(guò)專(zhuān)業(yè)、細(xì)致和全面的技術(shù)支持服務(wù),實(shí)現(xiàn)“為客戶創(chuàng)造更多價(jià)值”的承諾。 北京海菲爾格科技有限公司HIFERG TECHNOLOGY主要從事國(guó)外高科技研發(fā)裝備和分析儀器在國(guó)內(nèi)的市場(chǎng)推廣、應(yīng)用指導(dǎo)、設(shè)備銷(xiāo)售、安裝調(diào)試和技術(shù)售后服務(wù)。公司服務(wù)于高等院校、科研機(jī)構(gòu)、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)、檢驗(yàn)檢疫、制藥、農(nóng)藥、精細(xì)化工、聚合物、復(fù)合材料、石油、食品、飲料、涂料、高分子材料、日化、建材、農(nóng)業(yè)等,具有良好的市場(chǎng)聲譽(yù)。 北京海菲爾格科技有限公司HIFERG TECHNOLOGY是芬蘭PIXACT、德國(guó)ITA INSTRUMENTS、德國(guó)SEQUIP、德國(guó)PROMTEC THEISEN、德國(guó)HENTSCHEL和美國(guó)REMSPEC中國(guó)代理,是德國(guó)TEWS Elektronik、德國(guó)JUCHHEIM、德國(guó)HITEC ZANG、瑞士KINEMATICA和美國(guó)CORNING的代理,是德國(guó)Goettfert、法國(guó)01-dB Metravib、以及德國(guó)HAAKE的代理和緊密合作伙伴。 北京海菲爾格科技有限公司HIFERG TECHNOLOGY提供的不僅僅是單純的產(chǎn)品,而是集產(chǎn)品、應(yīng)用和服務(wù)于一體的解決方案。公司擁有多名化學(xué)相關(guān)專(zhuān)業(yè)畢業(yè)、具有多年實(shí)驗(yàn)室產(chǎn)品開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn)的市場(chǎng)推廣和銷(xiāo)售人員;技術(shù)和服務(wù)人員具有深厚的理論和產(chǎn)品知識(shí),可以為用戶提供完善的售后培訓(xùn)及技術(shù)支持。
實(shí)驗(yàn)室儀器
PCM結(jié)晶監(jiān)測(cè)系統(tǒng)結(jié)晶監(jiān)測(cè)系統(tǒng)(PCM)專(zhuān)為在線測(cè)量結(jié)晶工藝過(guò)程而設(shè)計(jì)
PCM結(jié)晶監(jiān)測(cè)系統(tǒng) 產(chǎn)品信息


PCM結(jié)晶監(jiān)測(cè)系統(tǒng)

結(jié)晶監(jiān)測(cè)系統(tǒng)(PCM)專(zhuān)為在線測(cè)量結(jié)晶工藝過(guò)程而設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)結(jié)合了原位工藝過(guò)程顯微鏡與的圖像分析技術(shù)。PCM提供工藝過(guò)程的實(shí)時(shí)影像視圖和關(guān)于晶體特征的詳細(xì)分析數(shù)據(jù),例如尺寸分布,形態(tài)和濃度。PCM的測(cè)試結(jié)果可以有效地幫助過(guò)程優(yōu)化、過(guò)程控制和故障排查。使用PCM可以幫助提高過(guò)程產(chǎn)能,降低最終產(chǎn)品的質(zhì)量波動(dòng)。PCM具有靈活的安裝機(jī)制,它可安裝在從實(shí)驗(yàn)室到規(guī)模生產(chǎn)階段的反應(yīng)釜及結(jié)晶器多種設(shè)備中。這種技術(shù)可以被用于連續(xù)生產(chǎn)過(guò)程或批次生產(chǎn)過(guò)程。

PCM的基礎(chǔ)是實(shí)時(shí)影像,它為您提供有關(guān)工藝過(guò)程有價(jià)值的可視化信息。此外,t結(jié)晶監(jiān)測(cè)系統(tǒng)(PCM)的圖像分析算法可以檢測(cè)圖像數(shù)據(jù)中的晶體和其它粒子,獲得過(guò)程結(jié)晶分布的實(shí)時(shí)統(tǒng)計(jì)結(jié)果并生成關(guān)于其特征以及其它懸浮體特性的詳細(xì)實(shí)時(shí)數(shù)字信息。

PCM測(cè)試結(jié)果

- 晶體尺寸分布和相關(guān)統(tǒng)計(jì)(平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差; D10,D50D90)

- 晶體生長(zhǎng)速率

- 晶體長(zhǎng)徑比

- 測(cè)試區(qū)域的晶體數(shù)量和成核速率

- 體系流動(dòng)性

- 晶體尺寸累積分布(D10, D50, D90等)

- 微晶和粗晶百分比


 

 




關(guān)鍵詞:顯微鏡 結(jié)晶器
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