一、產(chǎn)品概述
本試驗(yàn)系統(tǒng)是以“工程應(yīng)用環(huán)境模擬與仿真”為基礎(chǔ)，智能模擬高溫、低溫、高濕、低濕、恒溫恒濕等人工氣候環(huán)境，突破了常規(guī)試驗(yàn)裝置單一試驗(yàn)難題，提供了在不同的工程應(yīng)用環(huán)境條件下，為工程材料和元器件提供多種環(huán)境條件交互作用下和不同的測(cè)試手段下可靠性、耐久性能的智能環(huán)境模擬測(cè)試系統(tǒng)。適用于考核各種元器件和各種工程材料等工業(yè)設(shè)備部件，在高溫、低溫、濕熱和交變濕熱等環(huán)境條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，可供各種科研機(jī)構(gòu)及廠礦中心試驗(yàn)室做可靠性試驗(yàn)。其工作系統(tǒng)采用冷熱平衡原理，通過智能溫濕度控制儀的自動(dòng)控制及風(fēng)道循環(huán)控溫方式，使試驗(yàn)箱內(nèi)的溫濕度環(huán)境精確可靠，安全穩(wěn)定。
本試驗(yàn)室內(nèi)置空氣處理系統(tǒng)，制冷降溫部分采用頂部風(fēng)出風(fēng)口送風(fēng)、下側(cè)風(fēng)道進(jìn)口回風(fēng)，對(duì)試驗(yàn)室內(nèi)空氣進(jìn)行恒溫恒濕循環(huán)處理，以達(dá)到穩(wěn)定可靠符合有關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)要求的溫濕度環(huán)境。
二、產(chǎn)品型號(hào)滿足的參照標(biāo)準(zhǔn)：
1、GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2、GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3、GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
4、GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
5、GB/T2423.3-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱
6、GB/T2423.4-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱
7、GJB150.1A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第1部分：通用要求
8、GJB150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
9、
GJB150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)
10. GJB150.9A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn)
11、GB/T10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
12、GB/T5170-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)
13、GJB360.8-1987電子及電氣元件試驗(yàn)方法 高溫壽命試驗(yàn)
14、GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
15、GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法
四、各型號(hào)主要技術(shù)參數(shù)：
電測(cè)試驗(yàn)快速溫變?cè)囼?yàn)箱：
1、型號(hào)：ZY-KWB-080
2、工作室內(nèi)尺寸：600×600×600mm（W*D*H）；可按需求定制
3、溫度范圍：-70℃～+180℃（可調(diào)）；
4、溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃；
5、溫度均勻度：≤2℃；
6、溫度偏差：≤±2.0℃
7、解析精度：
（1）溫度：0.1℃
（2）濕度：0.1%R.H
8、升溫速率： 5-10℃/min（全程線性）
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