針對RoHS檢測設(shè)計開發(fā)
測量貴金屬如金、銀、鉑等效果甚佳
分析測量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
提供專業(yè)玩具安全檢測,亦可用于測量鍍層厚度和全元素分析
全自動X熒光光譜儀UX-310配置與參數(shù) | |
探測器 | Amptek X-123 配置原廠MCA |
高壓電源 | Spellman MNX50P50 |
X光管 | 丹東 專用X光管 Mo靶 |
自動化操作系統(tǒng) | 華唯磚利設(shè)計 實現(xiàn):原級濾光片、準(zhǔn)直器、二次濾光片、樣品及測試區(qū)域定位、樣品蓋開關(guān)、工作曲線選擇全自動 |
分析軟件 | UX-310專用版 V6.0 多元素分析軟件、 鍍層膜厚分析軟件(二選一) |
技術(shù)參數(shù) | |
儀器尺寸 | 570 (W)* 470(D)*480(H)mm |
樣品腔尺寸 | 小樣品腔:300(W)*300(D)*100(H)mm; 大樣品腔:無限制,小于30公斤 |
重量 | 凈重:50Kg |
工作環(huán)境 | 15—30℃ 相對濕度≤85%(不結(jié)露) |
可分析元素范圍 | K-U |
*低檢出限 | Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm |
測量時間 | 200-400s |
探測器*佳分辨率 | 149±5eV |
電源 | AC 220V ± 10%,50Hz 1000W |
選配件 | |
多元素分析軟件、膜厚分析軟件(二選一) | |
六價鉻測試儀(可進行六價鉻的定量分析) | |
真空系統(tǒng) (可真空測氯,*低檢出限≤50PPm) |