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清潔度檢測(cè)系統(tǒng)

參考價(jià)面議
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  • 公司名稱西安佰科達(dá)儀器設(shè)備有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地西安市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2023/12/7 16:24:34
  • 訪問(wèn)次數(shù)251
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西安佰科達(dá)儀器設(shè)備有限公司(Xi’an BaiKeDa Instrument&Equipment Co., Ltd. )長(zhǎng)期致力于X熒光光譜、直讀光譜、金相顯微鏡、硬度計(jì)、試驗(yàn)機(jī)等材料理化分析和力學(xué)性能檢測(cè)設(shè)備的銷售和技術(shù)推廣,和Thermo Fisher、Bruker、Anton Paar、Olympus、Fischer、Mahr,ARUN等多家分析儀器公司進(jìn)行深入廣泛的合作,為西北地區(qū)客戶提供專業(yè)的材料檢測(cè)儀器和整體解決方案。客戶群體涉及:航天、航空、石化、電力、壓力容器、機(jī)械加工、汽車制造、廢品回收、鋼鐵及有色金屬冶煉、科研院所、檢測(cè)機(jī)構(gòu)、高校、地礦勘測(cè),土壤中重金屬評(píng)估等領(lǐng)域。 公司提供的產(chǎn)品有: 臺(tái)式、立式、便攜式火花光電直讀光譜儀; 臺(tái)式、手持式土壤、礦石、合金分析儀; 碳硫分析儀,氧氮?dú)浞治鰞x、定氮儀; 洛氏、布氏、維氏、顯微維氏等硬度計(jì); 臺(tái)式、便攜式金相顯微鏡; 測(cè)厚、探傷儀等現(xiàn)場(chǎng)無(wú)損檢測(cè)儀器; 殘余應(yīng)力分析儀及應(yīng)力消除設(shè)備; 、沖擊、扭轉(zhuǎn)、疲勞等力學(xué)試驗(yàn)機(jī); 粗糙度、納米壓痕、劃痕、摩擦磨損儀等表面力學(xué)性能測(cè)試儀器; 高低溫、鹽霧等環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備; 投影儀、三維掃描等測(cè)量?jī)x器。 公司擁有經(jīng)驗(yàn)豐富、技術(shù)的專家隊(duì)伍、業(yè)務(wù)嫻熟的技術(shù)工程師和訓(xùn)練有素的銷售人員,以客戶需求為出發(fā)點(diǎn),注重產(chǎn)品技術(shù)和質(zhì)量,為客戶提供的產(chǎn)品和以及最及時(shí)、周到的售前、售后服務(wù)。 無(wú)論現(xiàn)在還是將來(lái),西安佰科達(dá)永遠(yuǎn)是您和信賴的伙伴,您的需要就是我們的工作!
元素光譜儀
一,設(shè)備介紹:JY-PA清潔度檢測(cè)系統(tǒng)二,應(yīng)用領(lǐng)域介紹:該設(shè)備涉及的行業(yè)、應(yīng)用等相關(guān)方面;清潔度檢測(cè)系統(tǒng)是應(yīng)用在汽車行業(yè)清潔度檢測(cè)、液壓潤(rùn)滑行業(yè)顆粒度檢測(cè)的產(chǎn)品,并可應(yīng)用在需要粒子檢測(cè)的制藥廠等行業(yè)
清潔度檢測(cè)系統(tǒng) 產(chǎn)品信息
一,設(shè)備介紹:JY-PA清潔度檢測(cè)系統(tǒng) 
   
二,應(yīng)用領(lǐng)域介紹:該設(shè)備涉及的行業(yè)、應(yīng)用等相關(guān)方面; 
 清潔度檢測(cè)系統(tǒng)是應(yīng)用在汽車行業(yè)清潔度檢測(cè)、液壓潤(rùn)滑行業(yè)顆粒度檢測(cè)的產(chǎn)品,并可應(yīng)用在需要粒子檢測(cè)的制藥廠等行業(yè)。
 
三,產(chǎn)品的特點(diǎn)、功能等相關(guān)方面
 A, 系統(tǒng)由多種自動(dòng)控制部分組織:
 1, 智能化顯微鏡確保確保獲得顆粒精確的光學(xué)圖像; 
 2, 電動(dòng)平臺(tái),掃描位置更加精準(zhǔn);
 3, 智能化的全自動(dòng)清潔度分析軟件自動(dòng)拍照、自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)控制掃描、自動(dòng)識(shí)別分析,確保顆粒不被漏判和誤判,檢測(cè)效率高; 
 
B, 全動(dòng)分析 
1,全自動(dòng)的檢驗(yàn)分析過(guò)程:自動(dòng)掃描整個(gè)試樣(通常是濾紙)、自動(dòng)拍照,顆粒自動(dòng)識(shí)別、統(tǒng)計(jì)、分析,自動(dòng)檢查清潔度、自動(dòng)生成專業(yè)分析報(bào)告; 
2,支持多種掃描方式:矩形區(qū)域、圓形區(qū)域等;滿足各種應(yīng)用需要;同時(shí)可測(cè)量零件清潔度、油液清潔度、鐵譜分析等。提供專業(yè)夾具,使樣品更平整。
 
C, 全動(dòng)偏光掃描
支持顯微鏡內(nèi)置自動(dòng)偏光設(shè)備以及外接自動(dòng)偏光部件,一遍掃描,方便快捷。
 
D, 支持自動(dòng)光強(qiáng)切換,確保明場(chǎng)和偏光下的都能保持相對(duì)穩(wěn)定亮度
 
E,多種檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
支持多種國(guó)際國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn),包括ISO16232、ISO4406、ISO4407、NAS1638、VDA19、STD4189、GB/T20082。 
 
F,支持自定義檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)  
支持特殊和自定義標(biāo)準(zhǔn)。支持按長(zhǎng)度、寬度等參數(shù)分類。支持軟硬顆粒的分類;支持權(quán)重系數(shù)設(shè)定;可以設(shè)定合格區(qū)間,自動(dòng)判定合格。
 
G,場(chǎng)自動(dòng)定位 
采集過(guò)程自動(dòng)拍照、照片自動(dòng)保存,進(jìn)度狀態(tài)實(shí)時(shí)可見(jiàn);照片信息存入數(shù)據(jù)庫(kù),方便查詢;
提供視場(chǎng)圖片瀏覽功能,可以實(shí)現(xiàn)視場(chǎng)定位回溯、重新拍照等功能。
 
H,動(dòng)識(shí)別金屬、非金屬、纖維 
I,可通過(guò)單次和2次掃描,區(qū)分金屬、非金屬、纖維 
J,支持跨視野超大顆粒、自動(dòng)校正偏移
系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別顆粒、自動(dòng)分析顆粒類別、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)顆粒參數(shù)。同時(shí)支持修改顆粒。提供多種統(tǒng)計(jì)分析工具:MAP圖、顆粒列表、統(tǒng)計(jì)結(jié)果、直方圖等; 
 
K,統(tǒng)計(jì)與分析   Analysis and Statistics
系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別顆粒、自動(dòng)分析顆粒類別、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)顆粒參數(shù)。同時(shí)支持修改顆粒。提供多種統(tǒng)計(jì)分析工具:MAP圖、顆粒列表、統(tǒng)計(jì)結(jié)果、直方圖等;
 
L,專業(yè)清潔度報(bào)告  Professional Cleanliness Report
支持模板化報(bào)告生成模式,包含統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)、評(píng)級(jí)、濾片全貌圖、顆粒照片等信息;可選擇多種報(bào)告模式。
M,可升級(jí)2個(gè) 4個(gè) 10個(gè)樣品批量分析檢測(cè) 
關(guān)鍵詞:顯微鏡
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