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觸摸屏高低溫試驗箱/可編程高低溫試驗箱

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱上海奉實實驗儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2023/11/20 14:53:17
  • 訪問次數(shù)191
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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產(chǎn)品用途標(biāo)準(zhǔn)：高低溫試驗箱：適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗
觸摸屏高低溫試驗箱/可編程高低溫試驗箱 產(chǎn)品信息

產(chǎn)品用途標(biāo)準(zhǔn)：

高低溫試驗箱：適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗。對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗其各項性能指標(biāo)。

產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法》對產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗及恒定溫?zé)嵩囼?。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。

GBT2423.1-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分試驗方法 試驗A低溫

GBT2423.2-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分試驗方法 試驗B 高溫

GBT 10592-1989 高低溫試驗箱 技術(shù)條件

SJT 31391-1994 試驗箱完好要求和檢查評定方法

GB/T 5170.2-2008 溫度試驗設(shè)備

GJB150.3A-2009(MIL-STD-810F-2000)高溫試驗

GJB150.4A-2009(MIL-STD-810F-2000)低溫試驗

SJT 31129-1994 高低溫測試設(shè)備完好要求和檢查評定方法

GBT 11158-1989 高溫試驗技術(shù)條件

JB-T 8250.5-1999 照相機高、低溫試驗方




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