產品特點:
1.分辨率高,靈敏度高,抗力強,對試樣無破壞,實驗技術較為簡單,試樣的制備技術也不復雜。
2.研究的對象可以是導體、半導體或絕緣體,試樣可以是晶體或非晶體態(tài)的體材料、薄膜或固體的表層,也可以是粉末、超細小顆粒,甚至是冷凍的溶液。
A.整體性能
1.等加速、等速、正弦、重點區(qū)四種驅動。
2.速度范圍:±200mm/s。
3.標準α-Fe內雙線寬≤0.24mm/s。
B.探測器總成
1.氣體正比計數(shù)管、電荷前放、線性脈沖。
放大器、高壓電源、低壓電源一體機。
2.能量分辨率優(yōu)于10%(14.4keV處)。
3.穩(wěn)定性好于±1%。
C.數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
1.函數(shù)發(fā)生器
正弦、三角、階梯波、人工設定波形輸出。
可驅動512/1024/2048/4096道多定標譜儀。
2.多道分析器
具有PHA、MSC、MSC(Window)功能。
道數(shù):512/1024/2048/4096。
Wissel軟件,圖形界面。
配置:
儀器電源;信號發(fā)生器;電磁驅動器;鎖相放大器;X線探頭;電腦(自配)、打印機(自配)。