產(chǎn)品信息
EC-AFM環(huán)境控制型原子力顯微鏡產(chǎn)品特點
- 光學(xué)金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設(shè)計,功能強大
- 同時具備光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能,兩者可同時工作,互不影響
- 可同時在普通空氣環(huán)境、液體環(huán)境、溫度控制環(huán)境、惰性氣體控制環(huán)境下工作
- 樣品掃描臺和激光檢測頭封閉式設(shè)計,內(nèi)部可充放特殊氣體,無需增加密封罩
- 激光檢測采用了垂直光路設(shè)計,配合氣液兩用型探針架可在液體下工作
- 單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針,使針尖垂直于樣品掃描
- 馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式,保護探針及樣品
- 超高倍光學(xué)定位系統(tǒng),實現(xiàn)探針和樣品掃描區(qū)域精確定位
- 集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測量精度優(yōu)于98%
應(yīng)用案例
技術(shù)參數(shù)
EC-AFM原子力顯微鏡技術(shù)參數(shù)