XS3DU電子分析天平 精密天平 電子天平 天平
具有的稱量性能，*基礎稱量應用：在800 mg的精細量程范圍內(nèi)提供1 μg的可讀性。具有同類產(chǎn)品中的重復性可低至0.8 μg，是獲得理想的稱量可靠性的關鍵，避免不必要的重復測試，顯著地降低了樣品和時間的浪費。
梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設計。
XS3DU電子分析天平 精密天平 電子天平 天平標準配置
內(nèi)置稱量應用程序
TouchScreen觸摸屏，方便天平稱量和參數(shù)設置
SmartTrac彩色動態(tài)圖形顯示器：圖形稱量輔助，跟蹤稱量范圍和公差
可設置多達10個特定功能的快捷鍵
可定義3個的信息，用于用戶和樣品標識
內(nèi)置RS232C和兩個輔助接口；用于連接鍵盤或ErgoSens外接紅外感應器選件，實現(xiàn)無需用手接觸的稱量操作
第二接口選件插槽；例如LocalCAN，以太網(wǎng)，RS232，MiniMettler，藍牙或PS/2等接口選件
手動開關門的玻璃防風罩
可更換的顯示屏保護蓋
下掛鉤稱量
具有過載保護的稱量傳感器
顯示多種質(zhì)量單位
差重稱量應用程序
計件和百分比稱量應用程序
統(tǒng)計應用程序
XS3DU電子分析天平 精密天平 電子天平 天平技術指標
極限值
XS3DU 雙量程
稱量值3.1 g
可讀性0.01 mg
稱量值0.8 g
可讀性0.001 mg
重復性(sd) - 加載處0.006 mg
- 低加載（加載處）0.005 mg (0.2 g)
重復性(sd) - 加載處0.001 mg
- 低加載（加載處）0.0008 mg (0.2 g)
線性*.004 mg
四角誤差（加載處）1)0.005 mg (2 g)
典型值 4)
典型重復性（sd）0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr
典型微分非線性（sd）√2x(10-12)g·R_nt
典型微分四角誤差（sd）1.2 x (10–6)•R_nt
典型靈敏度偏移（sd）2)3 x (10–6)•R_nt
典型最小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd)0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr
典型穩(wěn)定時間< 6 sec
穩(wěn)定時間< 10 sec
1) 根據(jù)OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內(nèi)
3) 次安裝，使用proFACT校準，靈敏度穩(wěn)定性
4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質(zhì)量） a=年
* 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進：
- 選擇適當?shù)姆Q量參數(shù)設置，
- 選擇合適的天平放置位置，
- 使用較小的去皮容器。
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