BOS-DT180動態(tài)顆粒圖像粒度分析儀
一、產(chǎn)品簡介
BOS-DT180是國內(nèi)蕞芯一代動態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備，它采用蕞芯的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件，將計算機圖像學(xué)與顆粒粒度及粒形分析理論玩美結(jié)合，在獲得清晰的顆粒圖像的同時，將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來，使用戶可以詳細(xì)的了解顆粒。此外，該款儀器還賦予了自動化、智能化等時代性的標(biāo)志、使其操作更簡便、分析更智能、結(jié)果更穩(wěn)定，是顆粒粒度測試及粒形分析的手選搭檔和得力助手。
二、性能特點
直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計算機屏幕，用戶可以直觀且荃面了解顆粒的表面及形狀屬性；
玩美拼接多幅圖像 將選取不同視場拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅，使參與分析的顆粒數(shù)量更多，測試結(jié)果更具代表性；
自動分割粘連顆粒 采用更*的顆粒識別算法，對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割，顯著提高粘連顆粒分割準(zhǔn)確率，減少人為參與，有效縮短圖像處理時間；
自適應(yīng)二值化功能 采用一種自適應(yīng)二值化功能，使其進(jìn)行圖像二值化處理時不受拍攝光線的影響，避免了因光線不均勻等因素而導(dǎo)致顆粒信息丟失的情況，為后續(xù)處理的精準(zhǔn)度奠定基礎(chǔ)；
自動處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動處理工具集，集成了二值化、肖除邊界不完整顆粒、肖除雜點、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計算顆粒參數(shù)等功能的自動操作，一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結(jié)果的生成等全部過程，操作簡便且結(jié)果可靠；
自由切換粒徑單位 標(biāo)尺選取支持多種長度單位、可在納米、微米和毫米之間自由切換，便于用戶對通過電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實現(xiàn)進(jìn)一步處理；
快速處理特殊形狀顆粒 對于球形顆粒，采用讀特的處理算法，對原始圖片無需進(jìn)行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息，即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會影響分析結(jié)果，提高球形顆粒的分析效率。
三、適用范圍:
BOS-DT180動態(tài)顆粒圖像粒度分析儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹脂、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、榨藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。
四、技術(shù)參數(shù)
規(guī)格型號 | BOS-DT180 | |
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008 | |
成像系統(tǒng) | 測試范圍 | 4-400μm |
光學(xué)放大倍數(shù) | 150-1000倍可調(diào)，蕞大可達(dá)1000倍 | |
蕞大分辨率 | 0.5μm | |
攝像系統(tǒng) | 重復(fù)性誤差 | ＜1% |
準(zhǔn)確性誤差 | ＜1% | |
光源 | 采用藍(lán)色高亮LED點光源 | |
顆粒識別速度 | ＞10000個每分鐘 | |
攝像機 | 采用高速攝像機，成像速度不低于120幀每秒 | |
進(jìn)樣方式 | 采用鞘流進(jìn)樣方式 | |
軟件功能 | 粒度分析 | 包括粒度分布、典型值、蕞大粒徑、特定區(qū)間含量、大于或小于某粒徑的含量 |
粒形分析 | 長徑比及分布、圓形度及分布、顆粒圖像 | |
顆粒計數(shù) | 計量一定體積液體中的顆粒個數(shù) | |
圓形度分析 | 能快速分析顆粒的圓形度 | |
比例尺標(biāo)定 | 通過幗家標(biāo)準(zhǔn)測微尺標(biāo)定后，可通過顆粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)驗證系統(tǒng)的準(zhǔn)確性。 | |
單個顆粒數(shù)據(jù) | 可在圖片上直接對單個顆粒進(jìn)行截面積、體積、長徑比等10多項參數(shù)的分析。 | |
任務(wù)管理機制 | 嚴(yán)格的任務(wù)管理機制，使用戶能夠?qū)⑺袦y試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。 | |
報告輸出 | 分析報告可以多種形式呈現(xiàn)，同時可轉(zhuǎn)換成PDF、BMP、Word、Excel等格式 | |
整體分布特征參數(shù) | D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù) | |
報告參數(shù) | 整體頻率分布累計分布 | 顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。 |
統(tǒng)計平均徑 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計平均徑 | |
形狀參數(shù) | 長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項常用數(shù)據(jù) | |
表頭輸入 | 可以將樣品名稱、測試單位、分散介質(zhì)等多項信息輸入到報告表頭中 | |
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