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美SD粒子碰撞噪聲檢測儀4511A、4511L、4511M4、4511M6

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2021/7/23 20:47:07
  • 訪問次數(shù)564
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司,經(jīng)過十多年的紫外光專業(yè)技術(shù)沉淀,可以根據(jù)客戶特殊要求提供定制化服務(wù),研發(fā)設(shè)計(jì)組裝:紫外臭氧清洗機(jī)(UV清洗機(jī)),準(zhǔn)分子清洗機(jī),等離子清洗機(jī)/去膠機(jī)等科研以及生產(chǎn)設(shè)備,擁有自主品牌及注冊商標(biāo)。 同時我們代理歐美日多家高科技設(shè)備廠家高性價比產(chǎn)品, 始終堅(jiān)持創(chuàng)新, 技術(shù), 服務(wù), 誠信的企業(yè)文化,為廣大中國及海外客戶提供的儀器設(shè)備和材料的整體解決方案。 應(yīng)用領(lǐng)域: 半導(dǎo)體/微納,光電/光學(xué), 生命科學(xué)/生物醫(yī)療等領(lǐng)域的研發(fā)和生產(chǎn), 客戶群體例如高等院校, 研究所,科技企業(yè)及醫(yī)療機(jī)構(gòu)等。 半導(dǎo)體/微納,光電/光學(xué) 產(chǎn)品主要有: 德國ParcanNano(Nano analytik)針尖光刻機(jī),電子束光刻機(jī), 激光直寫光刻機(jī),紫外光刻機(jī),微納3D打印機(jī),德國Sentech刻蝕機(jī)/鍍膜機(jī)及原子沉積,英國HHV磁控/電子束/熱蒸發(fā)鍍膜機(jī),微波離子沉積機(jī)MPCVD,芬蘭Picosun原子層沉積機(jī),電子顯微鏡, 德國Bruker布魯克原子力顯微鏡/微納表征/光譜儀, 美國THERMO FISHER賽默飛光譜/色譜/質(zhì)譜/波譜儀,美國Sonix超聲波顯微鏡, 德國耐馳Netzsch熱分析儀, 德國Optosol吸收率發(fā)射率檢測儀, 日本SEN UV清洗機(jī)/UV清洗燈,美國Jelight紫外清洗機(jī)/紫外燈管,德國Diener等離子清洗機(jī)等*技術(shù)產(chǎn)品。 生命科學(xué)/生物醫(yī)療 產(chǎn)品主要有:PCR儀,核酸質(zhì)譜儀/核酸檢測儀,電子顯微鏡,紫外設(shè)備,光譜/色譜/質(zhì)譜/波譜儀,生物芯片,試劑,實(shí)驗(yàn)耗材等。 并可依據(jù)客戶需求,研發(fā)定制相關(guān)產(chǎn)品。我們以高性價比的優(yōu)勢為客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù),為高等院校, 研究所,科技企業(yè)及醫(yī)療機(jī)構(gòu)等客戶提供儀器設(shè)備和材料。
電子顯微鏡
美SD粒子碰撞噪聲檢測儀4511A、4511L、4511M4、4511M6,用于電子元器件封裝后,對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗(yàn),目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子,是一種非破壞性實(shí)驗(yàn). 用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。
美SD粒子碰撞噪聲檢測儀4511A、4511L、4511M4、4511M6 產(chǎn)品信息

美SD粒子碰撞噪聲檢測儀4511A、4511L、4511M4、4511M6

選型說明:
每種型號的顆粒碰撞噪聲檢測儀都包括 :控制器,振動臺,傳感器, 靈敏度測試單元,軟件, 示波器, 電纜, 耗材, 及相關(guān)文件.其型號選擇主要根據(jù)被測件的重量和外型尺寸而定,我們的標(biāo)準(zhǔn)配置采用的是M230 振動臺可測負(fù)載重量,全頻率范圍內(nèi)為 400 克 , 換能器臺 面直徑為22mm~150mm, 換 能 器 因 在 其 中 心 區(qū) 域50%面積處靈敏度,故實(shí)際臺面選擇時換能器面積要略大于被測件扁平面面積。
設(shè)備用途:
用于電子元器件封裝后,對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗(yàn),目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子,是一種非破壞性實(shí)驗(yàn). 用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。
適用范圍:
用于檢測集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒.
PIND 技術(shù)參數(shù):
振動規(guī)格:
頻率范圍:25 至 250Hz, 正弦曲線
其他振動模式:隨機(jī)極限,75 至 400Hz 平坦頻率
自動階型頻率,40 至 250Hz
低頻率程序:振幅保護(hù)隨頻率變化
頻率分辨率:1Hz
時間 :每個程序 0.1 至 25.5 秒
時間程序分辨率:0.1 秒
振幅:0.1 至 25.50’G’峰值,4 位數(shù)顯
振幅程序分辨率:0.1’G’
重復(fù)性:0.5’G’峰值,帶反饋控制
D.U.T.載荷: 350g(整個范圍)
400g 在 60Hz
沖擊規(guī)格:
方法:沖擊臺反饋控制
自適應(yīng) D.U.T.載荷沖擊
振幅:100 至 2500’G’可編程
程序分辨率:10’G’
重復(fù)性:50’G’內(nèi)
脈沖寬度:<100 微秒在 50%振幅下
典型的是 150-200 微秒在 10%振幅下
沖擊延遲:沖擊脈沖下降沿時間,從 25 至 250 微秒
D.U.T.載荷:振幅隨負(fù)載輕微下降
能力 500 克在 1000g 振幅下
(可能需要改變程序值來加大載荷)
載荷規(guī)格
振動臺極限:800 克
振動極限:400 克 W/傳感器
沖擊極限:500 克(可能需要增加程序值)
電氣規(guī)格
電源:100,120,220,240VAC+/-10% at 50 or 60 Hz 可選
功耗: 300 瓦
額定功率放大:動態(tài)加載 100w RMS
聲波檢測電路:60dB 增益+/- 2 dB
100-200KHz 帶寬
極值:兩點(diǎn)極值開關(guān),出廠設(shè)定
輸出:
加速度顯示:16 位 LED
頻率顯示:16 位 LED
極值交替指示:一個沖擊檢測 LED
一個故障顯示 LED
沖擊值顯示:16 位 LED
示波器:10V,峰值
聲音:4w 內(nèi)部揚(yáng)聲器
最小輸出:10V,峰值
沖擊傳感器規(guī)格:
靈敏度:-77.5 dB +/- 3 dB re 1V per 微巴 at 155 kHz
按 ANSI2.1-1988 測量
電纜: 整體 3 通道全屏蔽柔性電纜
電磁干擾保護(hù):所有電纜全法拉第屏蔽
傳感器
不同型傳感器大小不一樣
例如:4511M 傳感器參數(shù)為:
100-4S155-4(傳感器):
壓電晶體數(shù)量:4 個,每個 0.75 英寸直徑檢測范圍
直徑:100mm(4in)
重量:190 克
加速度計(jì)規(guī)格
靈敏度:2.1 pc/G +/- 10% at 100 Hz
幾何位置:裝于沖擊傳感器內(nèi)
STU 傳感器靈敏度:-77.5 dB +/- 3 dB ref 1V per
Microbar at 155 kHz
按 ANSI2.1-1988 測量
外部 STU 脈沖器輸出:250 微伏+/- 20%
物理特性(幾何外形尺寸)
控制器:13cmX43cmX47cm(5.25X17.0X18.5in)
示波器:13cmX22cmx46cm (5.25X8.5X18in)
M230 振動臺:10cm High X 18cm Dia (4 X 7 in)
PIND 檢測技術(shù)原理

顆 粒 碰 撞 噪 聲 檢 測 ( Particle Impact Noise Detection,PIND)試驗(yàn)是一種多余物檢驗(yàn)的有效手段.其原理是利用振動臺產(chǎn)生一系列的機(jī)械沖
擊和振動,通過沖擊使被束縛在產(chǎn)品中的顆粒(即多余物)松動,再通過一定頻率的振動,使多余物在系統(tǒng)內(nèi)產(chǎn)生位移?;顒佣嘤辔镌诋a(chǎn)品中發(fā)生位移
的過程,是多余物相對產(chǎn)品殼體的滑動過程和撞擊過程的一個隨機(jī)組合過程。

在這個過程中,將產(chǎn)生應(yīng)力彈性波和聲波。兩種波在產(chǎn)品殼體中傳播,并形成混響信號,這個混響信號被定義為位移信號。采用壓電傳感器拾取到位移信號后,經(jīng)前置放大器放大后,位移信號由檢測裝置的主機(jī)采集、處理并顯示。檢測人員可以依據(jù)顯示的信號波形判定出信號性質(zhì),以此得出檢測結(jié)論.
如圖:一個小的金屬薄片將對電子元件造成嚴(yán)重的事故
關(guān)鍵詞:控制器 傳感器
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