產(chǎn)品信息:
直流I-V測試是表征微電子器件、工藝以及材料特性的基石。通常使用I-V特性分析,或者I-V曲線來決定器件的基本參數(shù)。
創(chuàng)譜儀器CPIV-SD半導(dǎo)體器件IV特性測試系統(tǒng)采用高精度,高漏電精度探針臺(tái)、數(shù)字源表以及上位機(jī)軟件組成;
產(chǎn)品特點(diǎn):
◆CPZH系列探針臺(tái):4寸/6寸樣品盤,漏電精度100fA,真空吸附,3微米探針移動(dòng)精度,10微米針尖,2000萬CCD成像,12寸顯示器
◆吉士利數(shù)字源表:
(雙電極)單通道選用2450,電壓量程:20mV-200V;電流量程:10nA-1A
(三端器件等)雙通道選用2602B,電壓量程:100nV-40V;電流量程:0.1fA-10A
◆IV測試軟件:
可以實(shí)現(xiàn):單階恒流輸出、單階恒壓輸出、電阻測量、多階恒流輸出、多階恒壓輸出、電流掃描、電壓掃描、電流電壓波形輸出、溫度測量-PT100鉑電阻
在測試的過程中,測量數(shù)據(jù)以圖形和表格的方式實(shí)時(shí)顯示,在切換到下一步驟后,顯示數(shù)據(jù)界面重新進(jìn)行初始化,同時(shí)系統(tǒng)信息窗口提示當(dāng)前正在執(zhí)行的步驟。
產(chǎn)品應(yīng)用:
◆二極管特性的測量與分析
◆雙極型晶體管BJT特性的測量與分析
◆MOSFET場效應(yīng)晶體管特性的測量與分析
◆MOS 器件的參數(shù)提取
實(shí)測曲線:
實(shí)測雙端器件IV測試曲線
實(shí)測三端器件IV測試曲線