符合標(biāo)準(zhǔn):
美國(guó)無紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST40.2(01),美國(guó)聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method4046),美標(biāo)MIL-B-81705C,美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D,中國(guó)GB19082,中標(biāo)GJB2625
適用范圍:
產(chǎn)品詳細(xì):
406D靜電衰減測(cè)試儀采用直流充電法,是符合美標(biāo)方法4046的一套完整的材料靜電特性測(cè)試系統(tǒng)。該設(shè)備是符合美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D規(guī)范用于檢測(cè)材料是否合格的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。406D符合美國(guó)無紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST40.2(01)、美國(guó)聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method4046)、美標(biāo)MIL-B-81705C、中國(guó)GB19082,中標(biāo)GJB2625。
406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測(cè)試;金屬夾具可以測(cè)試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料。選配IC管型夾具可以無損測(cè)試IC芯片包裝管;選配806B無損測(cè)試電極可以直接放置在試樣上,還可以測(cè)試粉體和液體靜電衰減時(shí)間。
配套法拉第測(cè)試籠提供一個(gè)屏蔽空間,試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測(cè)試,法拉第籠通過配套連接線連接406D主機(jī)。法拉第籠具有互鎖裝置,打開法拉第籠時(shí),高壓電源輸出被切斷。
STM-2驗(yàn)證模塊提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的電阻,電容直接采取系統(tǒng)電容。通過測(cè)試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗(yàn)證是否正常。
位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測(cè)頭可以卸下,放置在806B無損電極上后,可以直接測(cè)試粉體、液體和固體試樣。
產(chǎn)品特性:
充電電壓:0~5.5kV;
誤差期設(shè)置:50%、10%、1%(0);
電壓表量程:0-5kV;
計(jì)時(shí)器量程:1-99.99s;
計(jì)時(shí)分辨率:0.01s。