HORIBA熒光及吸收光譜儀Duetta

一種更佳的光譜儀理念

l 同步吸收- 熒光光譜儀

l UV-Vis-NIR 熒光檢測波長范圍250 nm-1100 nm

l 一秒內獲取三維熒光全譜

l 超高熒光靈敏度，水拉曼RMS 6000:1

l 自動校準主次內濾效應

l *的A-TEEM TM 指紋熒光技術，高保真識別分子指紋

l CCD 檢測器實現(xiàn)毫秒內完成整個熒光光譜采集

一臺光譜儀同時完成熒光和吸收光譜的采集!

Duetta 可作為熒光光譜儀使用，也可以作為UV-Vis-NIR 光譜儀測量吸光度，或用于測量真正的分子指紋，這需要同步獲取熒光和吸光度，同時進行內濾效應校正。

瞬間獲得熒光光譜

Duetta 標配超快的CCD 技術，讓它在采集速度的數(shù)倍, Duetta 標配超快的CCD 技術，讓它在采集速度的數(shù)倍優(yōu)于任何使用PMT 的熒光光譜儀。Duetta 是一款能在100 毫秒內獲得250nm-1100nm 校正光譜信息的一體式熒光光譜儀。這一的CCD 技術也將近紅外檢測光譜范圍擴展到1100 nm，遠超過標準PMT 熒光儀的光譜范圍。

高靈敏度

經(jīng)過優(yōu)化設計的Duetta，擁有高水平的靈敏度，意味著可測更低濃度的樣品，并提供更準確的數(shù)據(jù)。

EzSpec™ 觸屏操作軟件

Duetta 使用HORIBA 新一代EzSpec 軟件，使熒光光譜儀從此進入了智能觸屏時代，生動立體的人機互動，用戶體驗感；升級常規(guī)分析用軟件模塊，可具有定制化、個性化分析測試。

全新光譜儀設計

同步測試吸收和熒光

Duetta 的兩個獨立檢測器，可同時收集與激發(fā)光成直角的熒光和透射光路的吸光度。

CCD 采集整個發(fā)射光譜

Duetta 的CCD 一次采集250-1100 nm 整個發(fā)射光譜（不僅速度快，且光譜范圍廣）。

擴展至~1100 nm

檢測范圍近紅外檢測需求的日益增長，Duetta 已經(jīng)準備好迎接來自250-1100 nm熒光檢測的挑戰(zhàn)，這遠超標準PMT 檢測范圍。常規(guī)PMT 檢測范圍不能滿足近紅外檢測的需求（700~1100 nm），Duetta 標配實現(xiàn)了全波長范圍 （250~1100nm）。

輕松換燈，免調試

完美預準直的燈架套件，保證更換光源后光路準直，無需工具和售后服務人員。