IGBT功率器件動態(tài)參數(shù)測試儀主機可執(zhí)行非破壞性的瞬態(tài)測量測試,包括對半導(dǎo)體器件絕緣柵雙極晶體管(IGBT),功率MOSFET,二極管,雙極型器件的測試頭。主機包括所有測試設(shè)備和必要的軟件分析,可執(zhí)行電阻和電感的開關(guān)時間,開關(guān)損耗,柵極電荷,TRR /的Qrr和其他瞬態(tài)測試。
IGBT功率器件動態(tài)參數(shù)測試儀概述
- 測試電壓:大1200 VDC 200(短路電流可達1000A)
- 定時測量:低為1 ns
- 漏電流限制監(jiān)視器
- - MOSFET開關(guān)時間測試, Max VDD =1.2KV,0.1V Steps
- MOSFET,Diodes Qrr/Trr反向恢復(fù)時間測試,Max VDD=1.2KV, 0.1V Steps
- Qrr range:1nc~100uc,Trr range:10ns~2us
- MOSFET柵電荷Qg測試,Max VDD =1.2KV,0.1V Steps
- IGBT感性開關(guān)時間測試,Max VDD =1.2KV,0.1V Steps,Inductors range:0.1mH~159.9mH
- IGBT短路耐量測試,Max ISC=1000A
測試標(biāo)準(zhǔn):
- MIL-STD-750 Series
ITC57300mos管功率器件動態(tài)參數(shù)測試儀選項
- 額外的電源供應(yīng)器
- 額外的測試頭
- 大包裝適配器
ITC57300mos管功率器件動態(tài)參數(shù)測試儀測試頭
- ITC57210 - N-通道和P-通道功率MOSFET,MIL-STD-750方法3472開關(guān)時間
- ITC57220 - TRR /電源,MOSFET和二極管的Qrr,MIL-STD-750方法,3473
- ITC57230 - 柵極電荷功率MOSFET,MIL-STD-750方法3471
- ITC57240 - 電感式開關(guān)時間為IGBT,MIL-STD 750方法3477
- ITC57250 - (ISC)短路耐受時間,MIL-STD-750方法3479