立式溫濕度交變實驗箱指的是般對設(shè)備寬度有要求的客戶才會去定制的，因為有的顧客試驗室對該設(shè)備預(yù)留的空間比較窄，那我們就要將該設(shè)備做的窄點，以便可以放進去，為什么改變了寬度就叫立式的呢，因為該設(shè)備的控制器般是在左側(cè)或者右側(cè)，但是為了改變該設(shè)備的寬度，只好把它放在設(shè)備得上面。
1. 產(chǎn)品稱 型 號 | 立式溫濕度交變實驗箱 | ||||
2. 試樣說明 | 本恒溫恒濕箱適用： 電工、電子、電器產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高、低溫環(huán)境下儲 存、運輸和使用時的適應(yīng)性試驗。 本試驗設(shè)備禁止： 易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存 腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存 生物試樣的試驗或儲存 強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存 | ||||
3. 容積、尺寸和重量 | |||||
3.1. 標稱內(nèi)容積 3.2. 內(nèi)箱尺寸 3.3. 重量 | 80L 深400×寬 400×高 500 mm 約200kg | ||||
4. 性能 | |||||
4.1. 測試環(huán)境條件 4.2. 測試方法 | 環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、試驗箱內(nèi)無試樣條件下 GB/T 5170.2-1996 溫度試驗設(shè)備 GB/T 5170.5-1996 濕熱試驗設(shè)備 | ||||
4.3. 溫度范圍 | 0℃→+150℃； -20℃→+150℃； -40℃→+150℃； -70℃→+150℃ | ||||
4.4. 溫度波動度 | ±0.5℃ | ||||
4.5. 溫度偏差 | ±2.0℃ | ||||
4.6. 升溫速率 | 平均3℃/ min | ||||
4.7. 降溫速率 | 平均0.7～1℃/ min | ||||
4.8. 濕度范圍 | （20～98）%RH（參照溫濕度可控制范圍圖，無有源熱負載） | ||||
4.9. 濕度波動度 溫度均勻度 | ±1%RH ±2%RH（濕度≤75%RH 時） | ||||
4.10. 滿足試驗標 準 | GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備 GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備 GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法； GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法； GB/T 2423.3-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法； GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Db: 交變濕熱(12h+12h循環(huán)) GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N 溫度變化試驗方法； GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》； GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》； GB/T 10586-2006《濕熱試驗箱技術(shù)條件》。 MIL-STD810D方法502.2 美標準； GJB 150.9-1986 設(shè)備環(huán)境試驗方法 濕熱試驗 IEC 68-2-1-1990 中文稱: 基本環(huán)境試驗規(guī)程.2部分:1節(jié).試驗.試驗A:低溫試驗 EC68-2-14_試驗方法N_溫度變化 GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗ZAD:溫度濕度組合循環(huán)試驗 | ||||
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立式溫濕度交變實驗箱售后：整機質(zhì)保年，主要配件法國泰康壓縮機質(zhì)保兩年。
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