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硅片測厚儀金屬箔片厚度測試儀-新準儀器

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具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱濟南新準儀器設備有限公司
品牌
型號
所在地濟南市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時間2019/12/1 10:04:07
訪問次數(shù)497

產(chǎn)品標簽:

硅片測厚儀金屬箔片厚度測試儀

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公司介紹主營產(chǎn)品

濟南新準儀器設備有限公司（簡稱：新準儀器）總部位于山東.濟南，是一家專注于實驗室檢測儀器研發(fā)和銷售為一體的新科技創(chuàng)新企業(yè)，致力于為質(zhì)檢藥檢系統(tǒng)、食品行業(yè)、藥品行業(yè)、包裝印刷行業(yè)、膠黏劑行業(yè)、日化行業(yè)，提供高品質(zhì)的包裝材料檢測儀器和全面質(zhì)量解決方案。

濟南新準儀器有限公司擁有多位十年以上經(jīng)驗的專業(yè)技術服務人員和研發(fā)團隊，傾力為客戶提供更專業(yè)、更智能化產(chǎn)品和服務。

濟南新準儀器擁有一支完善的售后團隊和服務準則，提供10分鐘問題必響應，兩年整機質(zhì)保，設備90天內(nèi)只換不修，*提供技術解答。

服務理念

重視合同 , 確保質(zhì)量 : 準時交付 , 嚴守承諾
企業(yè)宗旨
為更多中小企業(yè)實驗室提供整體解決方案。

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產(chǎn)品簡介在線詢價

CHY-C2A硅片測厚儀金屬箔片厚度測試儀-新準儀器嚴格符合標準要求，專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

硅片測厚儀金屬箔片厚度測試儀-新準儀器產(chǎn)品信息

太陽能硅片的切割原理是轉(zhuǎn)動的鋼線上攜帶著大量碳化硅顆粒，同時工作臺位置緩慢下降，由于碳化硅的硬度大于多晶硅（晶體硅的莫氏硬度為6.5，碳化硅的莫氏硬度為9.5），依靠碳化硅的棱角不斷地對硅塊進行磨削，起到切割作用。薄厚片是衡量硅片品質(zhì)的一個很重要的指標。薄厚片的存在會影響硅片合格率及電池片的生產(chǎn)工藝。

CHY-C2A硅片測厚儀金屬箔片厚度測試儀-新準儀器采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

CHY-CA塑料薄膜測厚儀全自動薄片厚度測試儀嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制，測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差，實時顯示測量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進行判斷，配置標準量塊用于系統(tǒng)標定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)*性，系統(tǒng)支持數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結(jié)果，系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數(shù)據(jù)查看，標準的USB接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)

測試標準該設備滿足多項國家和標準：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

硅片測厚儀金屬箔片厚度測試儀-新準儀器

技術指標

測試范圍 0～2 mm（常規(guī)） 0～6 mm；12 mm（可選）

分辨率 0.1 μm

測量速度 10 次/min （可調(diào)）

測試壓力 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）

接觸面積 50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）

注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制

進樣步距 0～1000 mm

進樣速度 0.1～99.9 mm/s

電源 AC 220V 50Hz

外形尺寸 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)