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QRM QRM-MicroBar分辨率測試卡

參考價	￥ 100
訂貨量	≥1 Kg

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱深圳為爾康科技有限公司
品牌其他品牌
型號
所在地深圳市
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時間2024/6/17 10:11:37
訪問次數(shù)214

產(chǎn)品標簽:

QRM-MicroBar測試模體 QRM分辨率測試卡 CT分辨率測試卡德國QRM QRM測試模體

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公司介紹主營產(chǎn)品

深圳為爾康科技有限公司，是一家專業(yè)從事醫(yī)療檢測儀器,儀表,模體銷售和訂制的專業(yè)公司，公司可為科研、教育、航空、制造業(yè)等領(lǐng)域提供完整可靠地解決方案。
目前本公司的產(chǎn)品應(yīng)用于各醫(yī)療制造生產(chǎn)企業(yè)、科研院所、大專院校、質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局、疾病預(yù)防控制中心、衛(wèi)生監(jiān)督所、出入境檢驗檢疫、醫(yī)學(xué)院及各附屬醫(yī)院等領(lǐng)域. 公司目前處于快速成長發(fā)展階段，主要產(chǎn)品包括：醫(yī)學(xué)信號模擬器，醫(yī)學(xué)測試分析儀器，電子儀器儀表，輻射檢測儀器，氣體分析與檢測，客戶需求定制服務(wù)等。
我公司本著“誠信*，用戶至上”的經(jīng)營理念，為廣大用戶提供各類質(zhì)量優(yōu)良、價格合理的檢測設(shè)備。同時，給客戶提供良好的售前及售后服務(wù)，在友好的合作中謀求共同發(fā)展。

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質(zhì)控儀器，環(huán)境監(jiān)測儀器

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QRM QRM-MicroBar分辨率測試卡
內(nèi)含兩個3mm×3mm硅質(zhì)芯片，分別水平和垂直安裝，芯片上刻有條狀（溝槽）和點狀圖樣，度規(guī)格為：1μm，2μm，3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，8μm，9μm，10μm.

QRM QRM-MicroBar分辨率測試卡產(chǎn)品信息

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型號：QRM-MicroBar 類別：質(zhì)控模體品牌：德國QRM pdf資料: QRM QRM-MicroBar測試卡，QRM-MicroBar測試模體,Micro-CT高分辨率測試卡.pdf

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QRM QRM-MicroBar測試卡，QRM-MicroBar測試模體,Micro-CT高分辨率測試卡技術(shù)參數(shù)：
內(nèi)含兩個3mm×3mm硅質(zhì)芯片，分別水平和垂直安裝，芯片上刻有條狀（溝槽）和點狀圖樣，度規(guī)格為：1μm，2μm，3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，8μm，9μm，10μm.

作為我們流行的MicroCT-BarPattern-Phantom的進一步發(fā)展，我們現(xiàn)在推出BarPattern-NANO！

QRM QRM-MicroBar測試卡，QRM-MicroBar測試模體,Micro-CT高分辨率測試卡易于使用的幻像提供了兩個硅芯片，它們垂直對齊并放置在堅固的塑料支架上。
兩種3 x 3mm2的芯片都具有數(shù)個線和點圖案，分別代表線和點的寬度為1至10 µm。

此外，在芯片上還放置了鋸齒狀邊緣（L）和西門子星（放射狀星）。
芯片上的不同結(jié)構(gòu)以這種方式布置在芯片上，從而可以通過一次測量在圖像/芯片的中心以及外圍區(qū)域中確定空間分辨率。

芯片上的線型和點型：3 x 3mm2
結(jié)構(gòu)的深度在5和15 µm之間變化。

QRM QRM-MicroBar測試卡，QRM-MicroBar測試模體,Micro-CT高分辨率測試卡技術(shù)指標
基礎(chǔ)材料：固體塑料（切屑放在空氣中的支撐件上-壁厚> 0.3 mm）
直徑幻影： 5.2毫米
高度： 19毫米
硅芯片的措施： 3 x 3 x 0.66毫米
芯片上的結(jié)構(gòu)（分辨率）：分別為1至10 µm。500至50 LP / mm
芯片材質(zhì)：硅
圖案對比硅/空氣

As a further development of our popular MicroCT-BarPattern-Phantom we now present the BarPattern-NANO!

The easy and convenient to use phantom provides two silicon chips, perpendicularly aligned and placed on a solid plastic support.
Both 3 x 3 mm2 chips exhibit several line and point pattern representing lines and points of 1 to 10 µm width.

In addition a slented edge (L) and a Siemens-star (actinomorphic star) are also placed on the chip.
The different structures on the chip are arranged in such a way over the chip, that spatial resolution can be determined in the center as well as in the peripheral regions of the image/chip with a single measurement.

Line- and Pointpattern on the chip: 3 x 3 mm2
The depth of the structures varies within 5 and 15 µm.

Specifications
Base material: solid plastic (chips placed on support in air -> 0.3 mm wall thickness)
Diameter Phantom: 5.2 mm
Height: 19 mm
measures of silicon chip: 3 x 3 x 0.66 mm
structures on the chip (resolution): 1 to 10 µm, resp. 500 to 50 LP/mm
Material of chip: silicon
Contrast of pattern silicon / air