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晶圓測厚儀特點

來源:濟南新準儀器設(shè)備有限公司   2023年02月02日 11:28  

晶圓測厚儀采用機械接觸式測量方式,嚴格按照GB/T 6618標準要求設(shè)計,有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于8英寸/12英寸晶圓板、硅片厚度精確測量,同時也滿足塑料薄膜、無紡布、銅箔、金屬鍍層、薄片、隔膜、紙張、箔片等材料的厚度測量。

 

技術(shù)特征

搭載7寸IPS觸控屏,采用進口MEAS差動電感式位移傳感器分辨率0.1um.

測試過程按用戶設(shè)定程序,測量頭自動升降測量,測量數(shù)據(jù)自動打印

支持同組數(shù)據(jù)100個測量點數(shù)據(jù)采集,支持500組數(shù)據(jù)存儲/查詢

支持多級用戶權(quán)限管理,測試數(shù)據(jù)歷史記錄可查詢,可審計追蹤。

實時顯示測量結(jié)果的最大值、最小值、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據(jù),方便用戶進行判斷

配置標準量塊用于系統(tǒng)標定,保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性

可選配自動進樣裝置,實現(xiàn)無人工操作,系統(tǒng)全自動測量

配備USB接口專業(yè)測控軟件、可通過軟件操控儀器完成各項測量

 


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