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涂層測(cè)厚儀

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  • 型號(hào) TIME2601
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  • 廠商性質(zhì) 其他
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更新時(shí)間:2021-07-11 16:01:46瀏覽次數(shù):399

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

TIME2601涂層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)使用不同的測(cè)頭,還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn): GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)......

詳細(xì)介紹

TIME2601涂層測(cè)厚儀

功能特點(diǎn):

*采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度;

* 可使用8種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F3、F5、F10、N1、CN02);

* 具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE);

* 具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B);

* 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、樶大值(MAX)、樶小值(MIN)、測(cè)量次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV);

* 可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;

具有存貯功能:可存貯640個(gè)測(cè)量值;

* 具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量;

* 可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析;

* 具有打印功能:可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖;

* 具有電源欠壓指示功能;

* 操作過(guò)程有蜂鳴聲提示;

* 具有錯(cuò)誤提示功能,通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示;

* 設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式;

 

技術(shù)參數(shù):

測(cè)頭型號(hào)

F400

F1

F1/90°

F3

F5

F10

N1

CN02

測(cè)量范圍(um)

0~400

0~1250

0~1250

0-3000

0-5000

0~10000

0~1250(銅上鍍鉻0~40)

10~200

低限分辨力(um)

0.1

0.1

0.1

1

1

10

0.1

1

示值

一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

±(3%H+1)

±(3%H+1)

±(3%H+1)

±(3%H+1)

±(3%H+10)

±(3%H+1.5)

±(3%H+1)

誤差

二點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

±((1~3)%H+0.7)

±((1~3)%H+1)

±((1~3)%H+3)

±((1~3)%H+5)

±((1~3)%H+10)

±[(1~3)%H+1.5]

 

測(cè)

樶小曲率半徑(mm)

1

1.5

平直

 

 

10

3

僅為平直

樶小面積的直徑(mm)

F3

F7

F7

 

 

F40

F5

F7

基體臨界厚度(mm)

0.2

0.5

0.5

 

 

2

0.3

無(wú)限制

 

注:H——標(biāo)稱值

測(cè)頭選用參考表:

覆蓋層

 

 

基體

有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等)

非磁性的有色金屬的覆層

(如鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)

覆蓋層厚度不超過(guò)100μm

覆蓋層厚度超過(guò)100μm

覆蓋層厚度不超過(guò)100μm

覆蓋層厚度超過(guò)100μm

如鐵鋼等磁性金屬

被測(cè)面積的直徑大于30mm

F1型測(cè)頭0-1250μm

F400型測(cè)頭0-400μm

F1型測(cè)頭0-1250μm

F10型測(cè)頭0-10mm

F400型測(cè)頭0-400μm

F1型測(cè)頭0-1250μm

F1型測(cè)頭0-1250μm

F10型測(cè)頭0-10mm

被測(cè)面積的直徑小于30mm

F400型測(cè)頭0-400μm

F1型測(cè)頭0-1250μm

F400型測(cè)頭0-400μm

F400型測(cè)頭0-400μm

F400型測(cè)頭0-400μm

F1型測(cè)頭0-1250μm

如銅、黃銅、、錫等有色金屬

被測(cè)面積的直徑大于5mm

N1型測(cè)頭0-1250μm

N1型測(cè)頭只能測(cè)銅上鍍鉻0-40μm

塑料、印刷線路板等非金屬基體

被測(cè)面積的直徑小于7mm

-

-

CN02型測(cè)頭10-200μm

(主要用途測(cè)銅箔厚度)

 

標(biāo)準(zhǔn)配置:

主機(jī)、打印機(jī)、F1頭或N1頭、標(biāo)準(zhǔn)片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)、鐵基體或鋁基體、充電器

可選附件:

探頭(F400、F1、F1/90°、F3、F5、F10、CN02、N1)、通信線纜、通信軟件

 



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