納米粒度分析儀

納米粒度分析儀：N4Plus是采用激光法測(cè)超細(xì)顆粒的儀器，激光法測(cè)顆粒度，是基于ISO13321標(biāo)準(zhǔn)分析顆粒粒度的一種方法，即利用運(yùn)動(dòng)著的顆粒所產(chǎn)生的動(dòng)態(tài) 的散射光，通過(guò)光子相關(guān)光譜分析法PCS（Photon Correlation Spectroscopy）分析納米顆粒粒度，其特點(diǎn)是快速、準(zhǔn)確、分辨率高。

       

      納米粒度分析儀

           納米粒度分析儀技術(shù)參數(shù)

           1.測(cè)量范圍： 3-3,000nm
           2.測(cè)量時(shí)間：30-180秒
           3.重現(xiàn)性： 優(yōu)于3%CV
           4.可區(qū)別平均粒度比大于2.5的兩個(gè)峰
           5.精度： 2－5%

          主要特點(diǎn)

         1.是采用六個(gè)角度（在0-900C角度范圍）檢測(cè)的儀器
         2.的指紋分析給出六角度的Unimodal分析圖，快速判別樣品類型

 

Zeta電位和分子量分析儀的技術(shù)參數(shù)

1、粒徑測(cè)量
粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm * 
濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v * 
檢測(cè)角度: 175o 和 12.8o 
最小樣品量: 12 μl 

2、Zeta電位測(cè)量 
Zeta電位范圍: 無(wú)實(shí)際限制 
電泳遷移率: 0 – 無(wú)實(shí)際上限 
樣品電導(dǎo)率: 200mS/cm 
樣品濃度: 40% w/v 
最小樣品量: 150 μl 
粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm *

3、分子量測(cè)量
分子量范圍 342 - 2 ×10⁷ Da * （動(dòng)態(tài)光散射） 
980 - 2 ×10⁷ Da * （靜態(tài)光散射） 
最小樣品量  12 μl

* 取決于樣品