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Leica EM TXP 精研一體機(jī)

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更新時(shí)間:2021-05-14 14:18:44瀏覽次數(shù):274

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產(chǎn)品簡介

徠卡EM TXP 標(biāo)靶面制備系統(tǒng)具有定點(diǎn)修塊拋光功能,是用鋸,磨,銑削,拋光樣品后,供掃描電鏡,透射電鏡,和LM技術(shù)檢測。

詳細(xì)介紹

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Leica EM TXP 精研一體機(jī)

徠卡EM TXP 標(biāo)靶面制備系統(tǒng)具有定點(diǎn)修塊拋光功能,是用鋸,磨,銑削,拋光樣品后,供掃描電鏡,透射電鏡,和LM技術(shù)檢測。

帶有一體化體視鏡,用于精確定位及對(duì)較細(xì)微難以觀察的目標(biāo)位置進(jìn)行樣品處理時(shí)觀察;使用樣品旋轉(zhuǎn)手柄,可以改變樣品觀察角度,0°-60°可調(diào),或者垂直于樣品前表面90°觀察,可利用目鏡刻度標(biāo)尺測量距離。


一體化自動(dòng)程序控制

一體化自動(dòng)程序控制,包括自動(dòng)左右制動(dòng)機(jī)制,前進(jìn)反饋力控制,倒計(jì)數(shù)功能等,為使用者節(jié)約大量時(shí)間。


表面光潔度和標(biāo)靶檢測

表面處理與目標(biāo)檢測,都通過一體化體視鏡來完成,用戶不需要專程將樣品拿出來再進(jìn)行表面觀察檢測,這可大大提高使用者的工作效率。


適配工具多樣性

可適配多種多樣工具,從而使樣品不經(jīng)轉(zhuǎn)移就可以進(jìn)行研磨,切割,鉆孔,打磨及拋光。并且整個(gè)處理過程都可通過體視鏡進(jìn)行觀察監(jiān)控,大大節(jié)省時(shí)間和費(fèi)用。


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