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詳細(xì)介紹
- 小尺寸的全光譜分析
CMOS基本單元小于50mm(2")平方，僅重68g(2.4 oz.) - 適于OEM設(shè)備
小巧，低成本的單元適于大量產(chǎn)品定量重現(xiàn)性的場合 - 的性能
可以達(dá)到或超過與更大，更貴的光譜儀聯(lián)系在一起的光學(xué)分辨率，穩(wěn)定性，靈 - 敏度，以及其它性能指標(biāo)
- 多種接口選項
通過USB或RS-232接口及無線數(shù)據(jù)通訊通過藍(lán)牙或Wi-Fi適配器與光譜儀連接
物理參數(shù) |
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尺寸 | 40 mm x 42 mm x 24 mm |
重量 | 68 g (2.4 oz.), 包括光纖 |
操作溫度 | 0-50 °C, 10 °C 變化/小時段 |
儲藏溫度 | -20 to +75 °C |
探測器 |
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探測器類型 | ELIS-1024, 1024 像素線陣CMOS |
探測器范圍 | 200-1100 nm (未鍍膜) |
像素尺寸 | 1024, 7.8 x 125 μm |
光學(xué)平臺 |
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設(shè)計交叉 | Czerny Turner, 焦距 28 mm |
入射光闌 | 形狀光闌; 10 μm, 25 μm, 100 μm及200 μm狹縫 |
光柵 | 600 l/mm |
光纖光學(xué)接口 | ~2 cm x 400 μm固定光纖 (不能分離) |
量子效率 | 60% (在 675 nm) |
光學(xué) |
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波長范圍 | UV (200-600 nm), VIS (350-800 nm), NIR (650-1100 nm) |
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光學(xué)分辨率 | FWHM 1.0 nm (10 μm狹縫), |
| 1.5 nm (25 μm狹縫), |
| 6.0 nm (100 μm狹縫), |
| 12.0 nm (200 μm狹縫) |
信噪比 | >1500:1 (*信號) |
A/D 分辨率 | 14位 |
暗噪聲 | <3 counts RMS |
動態(tài)范圍 | 5 x 109(系統(tǒng), 10 s *積分), 4600:1 單次采集 |
積分時間 | 10 μs-10 s |
雜散光 | <0.25%在 450 nm; <0.1% 在750 nm |
校正后線性度 | <+/-0.5% ，從 15-95%全比例 |
*暗電流 | ~150 counts/秒在 60 °C |
電學(xué) |
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供電選項 | USB或GPIO端口 |
數(shù)據(jù)傳輸速度 | USB全速 |
接口 | Micro-USB |
輸入/輸出 | GPIO |
觸發(fā)模式 | 3種模式 |
閃控功能 | 單次/連續(xù) |
門延遲特性 | 是 |
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