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SGW-X4B 顯微熔點(diǎn)儀

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  • 型號(hào) SGWX4B
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  • 廠商性質(zhì) 其他
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更新時(shí)間：2023-02-15 10:15:19瀏覽次數(shù)：354

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

SGW-X4B 顯微熔點(diǎn)儀

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品描述：
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。
產(chǎn)品參數(shù)：
1、熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫～320℃
2、測(cè)量重復(fù)性：±1℃(在<200℃時(shí))；±2℃(200℃～320℃)
X4
X4A
X4B
溫度顯示最小值
1℃
0.1℃
0.1℃
熔點(diǎn)觀察方式
單目顯微鏡
單目顯微鏡
雙目體視顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù)
40X
40X
40X100X連續(xù)變倍
或

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